English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(561)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(651)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(122)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Tektronix представляет решения для отладки и тестирования на соответствие стандарту устройств с интерфейсом USB Type C

Компания Tektronix представляет решения для отладки и тестирования на соответствие стандарту устройств с интерфейсом USB Type C

17.06.2021

Чтобы удовлетворить потребительский спрос на еще более быструю загрузку данных в широком спектре приложений – от потокового видео в реальном времени до глобальных видеоконференций – компания Tektronix, Inc. сообщила о выпуске трех новых решений для тестирования, которые помогут обеспечить впоследствии будущие еще более высокие скорости передачи данных.

Новые решения для автоматизированного тестирования передатчиков разработаны с учетом жестких требований технологий следующего поколения для быстрой передачи больших объемов данных, в том числе для видеодисплеев с малой задержкой. Решения Tektronix для отладки и автоматизированного тестирования на соответствие стандартам устройств с интерфейсами USB4™, Thunderbolt™ 4 и DisplayPort™ 2.0 решают наиболее распространенные проблемы, с которыми сталкиваются инженеры-проектировщики, включая сокращение времени тестирования, обеспечение целостности сигнала и управление тестируемым устройством. Достоинством решений является возможность выполнения электрических испытаний и измерения характеристик на физическом уровне. Это крайне важно для разработчиков, поскольку позволяет обеспечить соответствие стандартам следующего поколения в отношении разъема USB-C.

Новый стандарт USB4 увеличивает скорость передачи данных до восьми раз по сравнению со стандартом USB 3.0 и обеспечивает быструю и безопасную зарядку устройств через разъем USB Type C мощностью до 100 Вт. Интерфейс DisplayPort 2.0 обладает пропускной способностью, которая в три раз больше, чем у DisplayPort 1.4, и поддерживает разрешение видео 16K, более высокую частоту обновления и обеспечивает улучшенное восприятие пользователя для дисплеев дополненной/виртуальной реальности (AR/VR).

Основные предложения включают в себя:

  • Решение Tektronix USB4
    - Соответствует спецификации USB4 версии 1.0 и спецификации теста на электрическую совместимость узла маршрутизатора USB4 версии 1.0;
    - Позволяет выполнять испытания Линии 0 и Линии 1 передатчика, не переворачивая разъём USB Type C® или высокоскоростную оснастку для тестирования USB4.
  • Решения Tektronix TBT3 и TBT4
    - Поддерживает все 4 скорости передачи данных (10 Гбит/с, 10,3 Гбит/с, 20 Гбит/с и 20,6 Гбит/с);
    - Обеспечивает автоматическое управление тестируемым устройством и поддерживает как TenLira/TDT (скрипты Intel), так и USB4 ETT.
  • Решение Tektronix DisplayPort 2.0
    - Предназначено для предварительного тестирования на соответствие стандартам с предлагаемыми компанией Тektronix измерениями для устройств со сверхвысокой скоростью передачи данных (UHBR);
    - Поддерживает пробник TriMode P76xx с различными вариантами наконечников.
  • Функция проверки сигналов TekExpress контролирует выполнение последовательности тестирования на соответствие требованиям стандарта, чтобы гарантировать точность результатов
  • Режим предварительной записи в TekExpress поддерживает автономный анализ и обеспечивает базовый уровень для будущих изменений спецификаций

Подробнее о новом решении.

По материалам Tektronix
www.tek.com


О компании:  Tektronix

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 2 Июнь 2021
КИПиС 2021 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
09.08.1776
Родился итальянский ученый, физик и химик
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.