English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(567)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(654)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(95)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(222)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(126)
Новости Росстандарта(150)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Tektronix представляет систему параметрического тестирования серии S530 с ПО KTE V7.1 для ускорения производства полупроводниковых приборов

Tektronix представляет систему параметрического тестирования серии S530 с ПО KTE V7.1 для ускорения производства полупроводниковых приборов

22.09.2021

Бивертон, штат Орегон, 20 сентября 2021 г. – Компания Tektronix, Inc., ведущий мировой поставщик контрольно-измерительного оборудования, выпустила программное обеспечение KTE V7.1 для системы параметрического тестирования Keithley серии S530, позволяющее ускорить производство полупроводниковых приборов, чтобы удовлетворять возрастающие потребности мирового рынка.

В число новых функций, которые впервые стали доступными в ПО KTE V7.1, входят возможность параллельного тестирования и уникальная функция высоковольтного измерения емкости для новых силовых полупроводников и приборов с широкой запрещённой зоной. С ПО KTE V7.1 время испытаний может быть сокращено более чем на 10 % по сравнению с ПО KTE V5.8, что позволяет минимизировать простои и ускорить изготовление кристаллов.

Появление технологии 5G и развитие Интернета вещей привели к повышению спроса на полупроводниковые приборы. Глобальный дефицит микросхем требует не только увеличения объемов производства, но и ускоренного тестирования разрабатываемых микросхем. Новая система параметрического тестирования поможет ускорить производство микросхем из-за сокращения времени испытаний и, таким образом, быстрее поставлять новые кристаллы на рынок.

«Параметрическое тестирование передовых аналоговых полупроводниковых приборов, приборов с широкой запрещённой зоной (SiC и GaN) и силовых полупроводников должно обеспечивать максимальную производительность измерений, охват широкого ассортимента продукции и минимум затрат, – говорит Питер Гриффитс (Peter Griffiths), генеральный менеджер подразделения по разработке систем и программного обеспечения компании Tektronix. – Наши клиенты, включая крупнейших мировых производителей полупроводниковых приборов, могут использовать преимущества ПО KTE V7.1, чтобы совершенствовать свои разработки с невиданной скоростью в целях удовлетворения требований меняющихся рынков».

С ПО KTE V7.1 система параметрического тестирования S530 становится более функциональной и производительной по сравнению с ПО KTE V7.0. Новая конструкция тестовой головки обеспечивает гибкость при использовании различных проб-карт. Обновлённое программное и аппаратное обеспечение позволяет повысить производительность, выполняя тестирование за один проход. Недавно выпущенный эталонный блок системы (SRU) сокращает время калибровки до менее чем восьми часов, т. е. прибор можно откалибровать за одну рабочую смену. SRU можно приобрести напрямую или в рамках годового плана сервисного обслуживания SSO.

Значительные усовершенствования и первенство в отрасли

Функция параллельного тестирования дополнительно повышает производительность и снижает стоимость тестирования

Благодаря ПО KTE V7.1, система параметрического тестирования S530 имеет функцию параллельного тестирования, что обеспечивает повышение производительности и снижение стоимости тестирования с ожидаемым показателем улучшения до 30 % (в зависимости от условий применения). Уникальная аппаратная часть системы S530 позволяет подключать до восьми источников-измерителей (SMU) высокого разрешения к любой контрольной точке через любой порт/ряд схемы Кельвина в системе, поэтому ПО параллельного тестирования Keithley оптимизирует эффективность использования всех системных ресурсов для достижения максимальной производительности.

Уникальные возможности высоковольтного измерения емкости для новых силовых полупроводниковых приборов с широкой запрещённой зоной Современным инженерам необходимо испытывать высоковольтные полупроводниковые приборы. В последнее время повышается спрос на приборы с более высокой рабочей частотой и более эффективным переключением. Повышение эффективности переключения не только снижает потребление электроэнергии и рассеивание тепла, но и благоприятно сказывается на окружающей среде. Теперь тестирование приборов с широкой запрещённой зоной при высоких рабочих напряжениях можно выполнять не только в научно-исследовательской лаборатории, но и в условиях производства. С ПО KTE V7.1 появляется функция высоковольтного измерения ВФХ (HVCV) – уникальное предложение, которое в сочетании с единственным в отрасли решением тестирования за один проход позволяет измерять напряжение от 200 до 1000 В, обеспечивая возможность измерения ВФХ со смещением до 1100 В пост. тока. При этом можно точно измерять емкости Cсз, Cзи и Cси для описания входных и выходных переходных характеристик силового прибора.

Тестирование с напряжением до 1100 В на любом контакте без необходимости переключения пробника В дополнение к подаче и измерению напряжения до 1100 В, в системе S530-HV может быть установлено до двух источников-измерителей 2470, а высоковольтный матричный коммутатор в S530-HV позволяет выполнять измерения в любой контрольной точке в любое время. Это обеспечивает максимальную гибкость для удовлетворения требований к цоколёвке широкого спектра устройств и структур без задержек и увеличения затрат, связанных с двухпроходным тестированием или подключениям к специальным контактам.

Наличие

Система параметрического тестирования серии S530 в настоящее время доступна во всём мире, цены предоставляются по запросу. Дополнительную информацию см. на странице tek.com/keithley-semiconductor-parametric-test-systems.

О компании Tektronix

Головной офис компании Tektronix находится в г. Бивертон, штат Орегон (США). Tektronix является ведущим поставщиком инновационных контрольно-измерительных решений, отличающихся простотой и высокой точностью. Уже более семидесяти пяти лет компания Tektronix занимается разработкой наиболее передовых технологий, являющихся основой технического прогресса. Дополнительную информацию о наших продуктах и решениях см. на сайте tek.com.

Tektronix является зарегистрированным товарным знаком компании Tektronix, Inc. Любые другие упомянутые торговые наименования являются знаками обслуживания, товарными знаками или зарегистрированными товарными знаками соответствующих компаний.

ИСТОЧНИК: Tektronix, Inc.


О компании:  Tektronix

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.