English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(538)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Конференция NIWeek 2009 – новые технологии измерений автоматизации тестирования

Конференция NIWeek 2009 – новые технологии измерений автоматизации тестирования

02.06.2009

Компания National Instruments представила программу NIWeek – конференции и выставки, посвященной технологиям графического программирования, которая соберет более 3000 инженеров, преподавателей и ученых. Пятнадцатая ежегодная конференция NIWeek 2009 пройдет с 4 по 6 августа в Конвеншн–центре города Остин в штате Техас. В течение трех дней конференции пройдут собрания по техническим проблемам, практические семинары, целевые саммиты и интерактивные выставки, на которых будут представлены последние разработки в областях проектирования, управления, автоматизации, производства и испытаний. На конференции также будут представлены презентации по ключевым темам, а также демонстрации новых продуктов.

В рамках конференции NIWeek 2009 пройдут более 200 технических сессий различных компаний и университетов, в том числе Averna, Harris Corporation, Freescale Semiconductor, и университета Пердью. Такие сессии позволят выделить последние разработки в области испытаний и систем сбора данных, промышленных измерениях и управлении, разработки встраиваемых систем и технологиях создания программного обеспечения, а также обеспечить инженеров и ученых навыками для развития конкурентоспособного бизнеса. Наряду с техническими семинарами по ВЧ и беспроводных технологиям, системам технического зрения и робототехники, на конференции пройдет первый саммит, посвященный проблемам развития аэрокосмической и оборонной отраслей.

Каждый день на конференции руководители и разработчики компании, среди которых Джеймс Тручард – президент компании National Instruments, Джефф Кодоски – один из основателей и руководитель по развитию технологий и бизнеса, Майк Сантори менеджер по развитию технологий и бизнеса, Джон Графф – вице–президент National Instruments по маркетингу и Рей Альмгрен – вице-президент по образовательной программе NI, будут проводить тематические презентации. Также необходимо отметить и доклад Дэвида Баррета, уже 25 лет работающего в области робототехники, посвященный тому, как робототехника в промышленности и инженерном образовании способна сделать более интерактивным взаимодействие людей c современными технологиями в их повседневной жизни. В каждый технический саммит также будет включена презентация промышленных экспертов, в том числе и доклад Элена Перди, корпоративного директора объединенной робототехнической группы при Министерстве Обороны США и Дина Камена, основателя FIRST.

Посетители конференции смогут больше узнать о новых технологиях, посмотрев демонстрации продуктов в более чем 200 павильонах выставки NIWeek 2009. В выставочном зале будут представлены технологии, освещенные ранее на тематических презентациях и технических саммитах в тематических павильонах, таких как LabVIEW Zone или RF/Wireless Pavilion, посвященных ВЧ и современным технологиям беспроводной связи. На конференции также пройдут ежедневные круглые столы в режиме прямого диалога с посетителями и участниками выставки. Это позволит задать всем интересующие вопросы по различным приложениям, промышленным областям, или профессиональной деятельности.

Кроме технических сессий, проводимых во время NIWeek, посетители смогут пройти двухдневные курсы обучения, проводимые перед самой конференцией, 2-3 августа, в Конвеншн-центре Остина. Данные курсы позволят участникам улучшить свои знания и перенять в числе прочих опыт использования NI LabVIEW или создания ВЧ–приложений. Посетители конференции также смогут сдать сертифицированные экзамены на знание программного обеспечения LabVIEW, NI LabWindowsTM/CVI и NI TestStand. Тренировочные и сертифицированные экзамены позволят приобрести необходимые навыки специалистам и обеспечить высокую конкурентоспособность их разработкам

Вы можете узнать больше о NI Week 2009 на этой страничке или на www.ni.com/niweek. Зарегистрироваться на конференцию можно онлайн или же позвонив по телефону +7 (495) 783-68-51.

Ознакомиться с обзором NI Week 2005 вы можете в журнале "Контрольно-измерительные приборы и системы" № 5 - 2005.


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств