EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Девятая научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments – 2010»

Девятая научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments – 2010»

30.11.2010

3-4 декабря 2010 года в Российском университете дружбы народов пройдет девятая международная научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2010». Традиционно конференция соберет более 350 инженеров, профессоров, преподавателей, научных сотрудников и студентов со всей России, стран СНГ и Балтии. Организаторами конференции выступят Российский университет дружбы народов и филиал корпорации National Instruments в России, СНГ и Балтии.

На конференции будут рассмотрены применения инновационных технологий в образовательных, научных и инженерных приложениях, а также преимущества использования современного оборудования и программного обеспечения National Instruments.

В рамках конференции пройдет целый ряд мероприятий, начиная от пленарных заседаний, технических презентаций, секционных докладов, мастер-классов, дискуссий с экспертами, заканчивая выставкой и олимпиадой по программированию в LabVIEW.

Участники конференции представят коллегам свои решения и наработки в области образования, научных исследований и инженерных приложений в рамках технических секций по направлениям: промышленные решения, научно-исследовательские стенды, лабораторные практикумы и учебные стенды.

На технических саммитах специалисты National Instruments расскажут участникам о новинках компании для приложений в таких областях как связь и телекоммуникации, электроника и микроэлектроника, автоматизация исследовательских и испытательных стендов, системы управления и регуляторы, вибрация и акустика, беспроводные системы сбора данных, стационарные измерительные комплексы, АСУТП.

В рамках дискуссий с экспертами, участники конференции смогут обсудить вопросы, касающиеся создания уникальных продуктов и решений на базе технологий NI.

Более подробную информацию о конференции можно узнать на странице www.labview.ru/conference, по email conference.russia@ni.com или по телефону +7 (495)783-68-51.

www.ni.com/russia



Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.