English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(643)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(538)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Опция “FSW-K6S”: анализ компрессии импульсных сигналов в радарных системах

Опция “FSW-K6S”: анализ компрессии импульсных сигналов в радарных системах

05.06.2015

Компания Rohde&Schwarz расширяет возможности опции FSW-K6 в области анализа импульсных сигналов, предлагая новое программное средство для разработки радиолокационных систем, использующих технологии сжатия импульсов.

Опция FSW-K6S (Time Sidelobe Analysis – анализ области боковых лепестков или компрессии импульсов) позволяет выявить взаимосвязь между измеряемым импульсом и “идеальным” импульсом, подобно тому, как это происходит в приемнике радара.

Вид корреляционной функции будет зависеть от формы сигнала, и расхождения между измеряемым и опорным сигналом. Расхождения между сигналами будут влиять, и на форму главного лепестка, и на уровни боковых лепестков корреляционной функции. Кроме того, можно выбрать результаты, которые будут одновременно отображаться на экране, например:

  • Ширина главного лепестка;
  • Подавление и задержка боковых лепестков;
  • Интегрированная мощность главного и боковых лепестков;
  • Корреляция по мощности;
  • Частота/фаза главного лепестка и др.

Другие возможности анализатора спектра R&S® FSW

Rohde & Schwarz


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств