English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(643)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(538)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Восьмая научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2009»

Восьмая научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2009»

20.10.2009

20-21 ноября 2009 года в Российском университете дружбы народов пройдет восьмая международная научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2009». Традиционно конференция соберет студентов, инженеров, профессоров, научных сотрудников, заведующих кафедр со всей России, стран СНГ и Балтии. Организаторами конференции выступят Министерство образования и науки Российской Федерации, российское представительство компании National Instruments и Российский университет дружбы народов.

На конференции будут рассмотрены применения инновационных технологий в образовательных, научных и инженерных приложениях, а также преимущества использования современного оборудования и программного обеспечения National Instruments.
В рамках конференции пройдет целый ряд мероприятий, начиная от пленарных заседаний, технических презентаций, секционных докладов, круглых столов с экспертами, заканчивая выставкой и олимпиадой по программированию в LabVIEW.

Профессора, студенты и инженеры представят коллегам свои наработки и достижения в образовании, научных исследованиях и инженерных приложениях в рамках технических секций по направлениям: научно-исследовательские и испытательные стенды, радиоэлектроника и телекоммуникации, промышленная автоматизация и встраиваемые системы, лабораторные практикумы и учебные стенды.

На технических саммитах специалисты National Instruments расскажут участникам о новых продуктах и решениях компании для таких приложений как программирование в LabVIEW, связь и телекоммуникации, электроника и микроэклектроника, автоматизированные научные и испытательные стенды, системы управления и регуляторы, вибрация и акустика, беспроводные системы сбора данных, стационарные измерительные комплексы, АСУТП.

Готовые учебные стенды и образовательные решения будут представлены в выставочном холле конференции. В рамках круглых столов профессора, преподаватели и руководители высших учебных заведений смогут поделиться своими успехами и опытом в области подготовки квалифицированных инженеров, обсудить осовремененные образовательные тенденции, межвузовскую кооперацию и создание самими учебными заведениями готовых продуктов.

Более подробную информацию о конференции, регистрации, подачи докладов и проживания можно узнать на этой странице, по email conference.russia@ni.com или по телефону +7 (495)783-68-51.


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств