English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(536)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар «Технологии National Instruments для ускорения исследований и автоматизации тестирования в радиотехнике»

Семинар «Технологии National Instruments для ускорения исследований и автоматизации тестирования в радиотехнике»

06.10.2015

Семинар «Технологии National Instruments для ускорения исследований и автоматизации тестирования в радиотехнике» пройдёт 9 октября в г. Томске.

В программе мероприятия:

  • Платформа National Instruments PXI
  • Платформа NI PXI для автоматизации научных исследований
  • Системы PXI для автоматизации тестирования в радиоэлектронной промышленности
  • Технологии National Instruments для подготовки специалистов в ВУЗах, техникумах, колледжах

Мастер‐класс по работе в среде проектирования NI AWR:

  • Введение в среду разработки AWR, новинки AWR в 2015 и следующих годах
  • Разработка модуля трансивера, радара и многоэлементной фазированной решетки с помощью VisualSystem Simulator
  • Эффективное использование электромагнитных эмуляторов в разработке РЧ и СВЧ печатных плат, MMIC и RFIC.

Посмотреть точный адрес, полную программу семинара, а также зарегистрироваться онлайн можно по данной ссылке.

National Instruments
Nationa Instruments LabVIEW


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
14.04.1629
День рождения