EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Rohde&Schwarz представила новый сканер для анализа сетей GSM/WCDMA

Rohde&Schwarz представила новый сканер для анализа сетей GSM/WCDMA

05.11.2009

Компания Rohde&Schwarz представила новый сканер для анализа сетей GSM/WCDMA – TSML-GW. Новый сканер сочетает возможности сканеров TSML-G и TSML-W, и в сочетании с программным комплексом ROMES способен строить карты покрытия, анализировать системную информацию и искать источники интерференции в сетях GSM и WCDMA одновременно. Доступна также опция анализа спектра от 80 МГЦ до 3 ГГц.

Управление сканером и чтение данных с него возможно также через открытый интерфейс ViCOM, что позволяет создавать собственные программы для обработки полученной информации. Это возможность доступна теперь также для сканеров TSMQ и TSMU.


О компании: Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Роберт Нортон Нойс
12.12.1843
День рождения
Марсель Депре
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.