EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новые возможности системы для измерения электромагнитных полей R&S®TS-EMF

Новые возможности системы для измерения электромагнитных полей R&S®TS-EMF

11.08.2013

Портативная система для измерения электромагнитных полей R&S®TS-EMF теперь поддерживает декодирование сетей LTE и WCDMA в сочетании с частотно-избирательными измерениями для анализаторов TSMW и FSH.

Опция TSEMF-K21 поддерживает автоматизированное измерение кодов LTE и частотно-избирательные измерения для анализатора радиосетей R&S®TSMW с опцией TSMW-K27 и -K29.

Опция TSEMF-K23 поддерживает автоматизированное измерение всех обнаруживаемых кодов LTE и WCDMA для портативного анализатора спектра R&S®FSH с опциями FSH-K40,-K50 и -K50E.

Rohde & Schwarz


О компании: Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Роберт Нортон Нойс
12.12.1843
День рождения
Марсель Депре
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.