English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(537)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Компания Tektronix выпустила первое в отрасли решение для тестирования новой шины SuperSpeed USB, работающей на скорости 10 Гбит/с

Компания Tektronix выпустила первое в отрасли решение для тестирования новой шины SuperSpeed USB, работающей на скорости 10 Гбит/с

19.08.2013

Компания Tektronix, Inc., ведущий мировой производитель осциллографов, усовершенствовала ряд своих решений для тестирования USB 3.0, включая первое в отрасли решение для тестирования передатчиков в соответствии со спецификациями SuperSpeedPlus 10 Гбит/с. Также добавлена новая функция декодирования данных USB 3.0 на основе осциллографа и расширенное решение для автоматизированного тестирования передатчиков SuperSpeed USB, повышающее производительность тестирования на 60 %.

Более высокая скорость передачи данных USB 3.0 порождает новые проблемы тестирования, в основном связанные с ростом потерь в канале и уменьшением соотношения сигнал/шум, а также с усложнением процесса тренировки канала и ужесточением требований к синхронизации, которые необходимо контролировать. С уменьшением диапазона устойчивой работы как никогда остро встает вопрос о системе, способной выполнять точные измерения в полном соответствии со стандартом. Решение Tektronix SuperSpeedPlus USBtest (опция SSP) полностью отвечает всем этим требованиям.

«По мере изменения таких важных промышленных стандартов, как USB 3.0, должно развиваться и наше контрольно-измерительное оборудование, – заявил Брайн Рейх (Brian Reich), руководитель отдела высокопроизводительных осциллографов компании Tektronix. – Последние усовершенствования наших решений для USB позволяют инженерам проверять соответствие новейшим версиям спецификаций этой шины и корректно декодировать данные, ускоряя отладку и значительно снижая время тестирования за счет автоматизации».

В связи с ужесточением требований к синхронизации и ростом сложности устройств, у инженеров появилась потребность в гибких инструментах, работающих с разными уровнями протокола шины и ускоряющих диагностику проблем. ПО декодирования данных USB 3.0 компании Tektronix упрощает отладку, позволяя выполнять запуск по событиям протокола, предоставляет функции поиска и навигации и поддерживает многоуровневое декодирование. Это открывает доступ ко всему стеку протокола с полной корреляцией по времени и отображением аналогового сигнала на одном экране.

Новое ПО автоматизации TekExpress USB (опция USB-TX) , созданное на основании многолетнего опыта компании Tektronix в области тестирования на соответствие стандарту USB, использует новую программную архитектуру, значительно повышающую производительность, и увеличивает скорость тестирования до 60 %. Например, ранее тесты передатчиков USB 3.0 занимали 12 минут, а теперь, с новым ПО TekExpress - всего 5.

«К концу 2013 года на рынке ожидается появление более полумиллиарда устройств SuperSpeed USB, в связи с чем, USB по-прежнему удерживает положение ведущего интерфейса для подключения периферийных устройств, – отметил Джефф Равенкрафт (Jeff Ravencraft), президент и исполнительный директор USB-IF. – Поддержка, оказываемая ведущими производителями контрольно-измерительного оборудования, такими как Tektronix, очень важна для того, чтобы компании-партнёры могли быстро выводить на рынок сертифицированные продукты и решения USB 3.0».

Новое программное обеспечение TekExpress для тестирования передатчиков USB 3.0 (опция USB-TX) и программное обеспечение для тестирования передатчиков SuperSpeedPlus USB (опция SSP) доступно для загрузки на сайте http://www.tektronix.ru.

Tektronix


О компании:  Tektronix

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
16.04.1823
День рождения
16.04.1909
День рождения создателя синтетических алмазов