![]() |
![]() |
|
![]() |
![]() |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на рассылку
|
Семинар «Измерения, управление, моделирование Технологическая платформа National Instruments для стендовых испытаний и сбора данных»![]() 25.04.2016 Семинар «Измерения, управление, моделирование Технологическая платформа National Instruments для стендовых испытаний и сбора данных» пройдёт 28 апреля 2016 года в Москве в Конгресс-центре МТУСИ. Время проведения: 10:00 – 14:00
В программе семинара:
Посещение мероприятия свободное, по предварительной регистрации (регистрационная форма доступна по данной ссылке). О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
|
Свежий номер
События из истории измерений
09.03.1900
Родился американский математик, создатель первых электромеханических вычислительных машин
![]() |
|
|
© "Контрольно-измерительные приборы и системы" ("КИПиС"), 1996-2021. Все права защищены. Политика конфиденциальности | |