EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Технический семинар «Технологии National Instruments для автоматизации тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов»

Технический семинар «Технологии National Instruments для автоматизации тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов»

07.09.2016

Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в семинаре, посвящённом разработке автоматизированных систем тестирования радиоэлектронной аппаратуры и электронных компонентов.

Дата и место проведения:
15 сентября 2016 г., 09:00. г. Москва, площадь Европы, д.2, гостиница "Рэдиссон Славянская", конференц-зал "Пушкин/Чехов", второй этаж.

Платформа NI PXIe и современные технологии тестирования радиоэлектронной аппаратуры:

  1. Платформа автоматизации измерений и тестирования NI PXIe – новые продукты и направления развития
  2. Подходы к разработке и архитектура построения тестовых систем
  3. Типовые решения в области параметрического тестирования низкочастотной и СВЧ РЭА
  4. Методы создания систем функционального контроля РЭА

NI STS – новейшее семейство тестеров электронных компонентов:

  1. Организация испытательных лабораторий по тестированию электронных компонентов (ЭКБ)
  2. NI STS – новое семействе тестеров ЭКБ от National Instruments
  3. Использование NI STS в задачах тестирования аналоговой, цифровой и смешанной ЭКБ
  4. Использование NI STS в задачах тестирования СВЧ ЭКБ
  5. Опыт применения аппаратуры NI PXI в задачах тестирования ЭКБ на воздействие спецфакторов

В программу семинара также включены выступления российских пользователей тестовых систем NI PXIe, а также партнеров компании по разработке и внедрению таких систем «под ключ».

Участие в мероприятии бесплатное, по предварительной регистрации. Регистрационную форму, а также полную программу семинара можно посмотреть по данной ссылке.


О компании: NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
01.02.1905
Родился американский физик, профессор, лауреат Нобелевской премии по физике
Эмилио Джино Сегре
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.