|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Конференция NIDays 201608.11.2016 Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в XV международной конференции - NIDays 2016. Конференция посвящена современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга. Традиционно конференция соберет лучших специалистов отрасли, среди которых более 500 руководителей предприятий, инженеров, профессоров и научных сотрудников со всей России, стран СНГ и Балтии. Инженеры компании National Instruments и альянс-партнеры расскажут о современных технологиях и новинках модульных приборов 2016 года, а также лучших решениях и самых интересных реализованных задачах. Дата и место проведения: 25 ноября 2016
В программе NIDays 2016
Основные секции
Участие с докладом
Подробную информацию Вы найдёте на странице конференции по данной ссылке.
Зарегистрироваться можно на сайте National Instruments. О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
|