EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Конференция NIDays 2016

Конференция NIDays 2016

08.11.2016

Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в XV международной конференции - NIDays 2016. Конференция посвящена современным измерительным и информационным технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга.

Традиционно конференция соберет лучших специалистов отрасли, среди которых более 500 руководителей предприятий, инженеров, профессоров и научных сотрудников со всей России, стран СНГ и Балтии.

Инженеры компании National Instruments и альянс-партнеры расскажут о современных технологиях и новинках модульных приборов 2016 года, а также лучших решениях и самых интересных реализованных задачах.

Дата и место проведения: 25 ноября 2016
г. Москва, Конгресс-центр МТУСИ, ул. Авиамоторная д. 8а

В программе NIDays 2016

  • Пленарные заседания
  • Выступления партнёров NI
  • Мастер-классы
  • Выставка оборудования
  • Сертификационные экзамены по LabVIEW

Основные секции

  • Электроника и радиотехника
  • Встраиваемые системы сбора данных и управления
  • Программные технологии
  • Научные исследования и образование

Участие с докладом

  • Компания National Instruments приглашает всех желающих участвовать с докладом о результатах прикладных исследований, перспективных разработках и о примерах успешного внедрения высоких технологий в промышленности, науке и образовании.
  • По итогам будет издан сборник трудов конференции, содержащий все принятые доклады.

Подробную информацию Вы найдёте на странице конференции по данной ссылке.

Зарегистрироваться можно на сайте National Instruments.


О компании: NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Роберт Нортон Нойс
12.12.1843
День рождения
Марсель Депре
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.