|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Новая опция автоматического измерения паразитных излучений (спур) для анализатора спектра и сигналов высшего класса – R&S®FSW14.12.2016 Поиск, измерение и анализ паразитных излучений (спур) являются одними из важнейших задач с которыми приходится сталкиваться разработчикам электронной СВЧ-техники. Особенно остро такая задача стоит перед инженерами работающими в аэрокосмической и оборонной отраслях, где необходимо находить и анализировать спуры с очень низкими уровнями в широком диапазоне частот. При этом, для обеспечения высокой чувствительности анализатора спектра необходимо использовать узкополосные фильтры разрешения (RBW). Так как, зачастую местоположение тех или иных паразитных пиков заранее не известно, в самом предельном случае, пользователю придется проводить измерение с узким фильтром во всей полосе частот анализа, которая может составлять от нескольких мегагерц до десятков гигагерц.Все это неизбежно приводит к очень продолжительному времени, затрачиваемому на проведение одного эксперимента. Даже в случае использования быстродействующих БПФ анализаторов, при необходимости установки ширины фильтра RBW в несколько герц эксперимент может занять несколько часов или даже сутки. Традиционно измерения паразитных составляющих выполняются в ручном режиме, когда пользователь самостоятельно подбирает оптимальную ширину фильтра и прочие настройки режима отображения анализатора спектра. На настоящий момент, с появлением новой опции автоматизированного измерения спур FSW-K50 от Rohde & Schwarz, единственное, что необходимо задать пользователю, это интересующий частотный диапазон и дискриминатор ожидаемого уровня излучений, которые должны быть исследованы. Оптимизированный алгоритм приложения FSW-K50 автоматически обеспечит условия детектирования излучений заданного уровня, применяя узкополосные фильтры RBW только там, где это необходимо. Совокупно с удобным и интуитивно-понятным графическим интерфейсом данная опция позволяет проводить измерения до 20 раз быстрее, в сравнении с ручным режимом. Опция FSW-K50 доступна для любой модели анализатора спектра и сигналов типа FSW с установленной версией прошивки 2.50 и старше. О компании: Rohde & Schwarz Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
|