English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(648)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(544)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новая опция автоматического измерения паразитных излучений (спур) для анализатора спектра и сигналов высшего класса – R&S®FSW

Новая опция автоматического измерения паразитных излучений (спур) для анализатора спектра и сигналов высшего класса – R&S®FSW

14.12.2016

Поиск, измерение и анализ паразитных излучений (спур) являются одними из важнейших задач с которыми приходится сталкиваться разработчикам электронной СВЧ-техники. Особенно остро такая задача стоит перед инженерами работающими в аэрокосмической и оборонной отраслях, где необходимо находить и анализировать спуры с очень низкими уровнями в широком диапазоне частот. При этом, для обеспечения высокой чувствительности анализатора спектра необходимо использовать узкополосные фильтры разрешения (RBW). Так как, зачастую местоположение тех или иных паразитных пиков заранее не известно, в самом предельном случае, пользователю придется проводить измерение с узким фильтром во всей полосе частот анализа, которая может составлять от нескольких мегагерц до десятков гигагерц.

Все это неизбежно приводит к очень продолжительному времени, затрачиваемому на проведение одного эксперимента. Даже в случае использования быстродействующих БПФ анализаторов, при необходимости установки ширины фильтра RBW в несколько герц эксперимент может занять несколько часов или даже сутки.

Традиционно измерения паразитных составляющих выполняются в ручном режиме, когда пользователь самостоятельно подбирает оптимальную ширину фильтра и прочие настройки режима отображения анализатора спектра.

На настоящий момент, с появлением новой опции автоматизированного измерения спур FSW-K50 от Rohde & Schwarz, единственное, что необходимо задать пользователю, это интересующий частотный диапазон и дискриминатор ожидаемого уровня излучений, которые должны быть исследованы.

Оптимизированный алгоритм приложения FSW-K50 автоматически обеспечит условия детектирования излучений заданного уровня, применяя узкополосные фильтры RBW только там, где это необходимо. Совокупно с удобным и интуитивно-понятным графическим интерфейсом данная опция позволяет проводить измерения до 20 раз быстрее, в сравнении с ручным режимом.

Опция FSW-K50 доступна для любой модели анализатора спектра и сигналов типа FSW с установленной версией прошивки 2.50 и старше.

Подробнее

www.rohde-schwarz.ru


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.