EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новая опция автоматического измерения паразитных излучений (спур) для анализатора спектра и сигналов высшего класса – R&S®FSW

Новая опция автоматического измерения паразитных излучений (спур) для анализатора спектра и сигналов высшего класса – R&S®FSW

14.12.2016

Поиск, измерение и анализ паразитных излучений (спур) являются одними из важнейших задач с которыми приходится сталкиваться разработчикам электронной СВЧ-техники. Особенно остро такая задача стоит перед инженерами работающими в аэрокосмической и оборонной отраслях, где необходимо находить и анализировать спуры с очень низкими уровнями в широком диапазоне частот. При этом, для обеспечения высокой чувствительности анализатора спектра необходимо использовать узкополосные фильтры разрешения (RBW). Так как, зачастую местоположение тех или иных паразитных пиков заранее не известно, в самом предельном случае, пользователю придется проводить измерение с узким фильтром во всей полосе частот анализа, которая может составлять от нескольких мегагерц до десятков гигагерц.

Все это неизбежно приводит к очень продолжительному времени, затрачиваемому на проведение одного эксперимента. Даже в случае использования быстродействующих БПФ анализаторов, при необходимости установки ширины фильтра RBW в несколько герц эксперимент может занять несколько часов или даже сутки.

Традиционно измерения паразитных составляющих выполняются в ручном режиме, когда пользователь самостоятельно подбирает оптимальную ширину фильтра и прочие настройки режима отображения анализатора спектра.

На настоящий момент, с появлением новой опции автоматизированного измерения спур FSW-K50 от Rohde & Schwarz, единственное, что необходимо задать пользователю, это интересующий частотный диапазон и дискриминатор ожидаемого уровня излучений, которые должны быть исследованы.

Оптимизированный алгоритм приложения FSW-K50 автоматически обеспечит условия детектирования излучений заданного уровня, применяя узкополосные фильтры RBW только там, где это необходимо. Совокупно с удобным и интуитивно-понятным графическим интерфейсом данная опция позволяет проводить измерения до 20 раз быстрее, в сравнении с ручным режимом.

Опция FSW-K50 доступна для любой модели анализатора спектра и сигналов типа FSW с установленной версией прошивки 2.50 и старше.

Подробнее

www.rohde-schwarz.ru


О компании: Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Роберт Нортон Нойс
12.12.1843
День рождения
Марсель Депре
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.