English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(549)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(636)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(530)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(143)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар "Инженерные интерфейсы в LabVIEW: среда и возможности"

Семинар "Инженерные интерфейсы в LabVIEW: среда и возможности"

21.03.2017

Семинар "Инженерные интерфейсы в LabVIEW: среда и возможности" пройдёт 24 марта 2017 в Сколково и будет посвящён основным методикам создания пользовательских интерфейсов в среде LabVIEW. Мероприятие проходит при поддержке проекта "Дни промышленного дизайна в Сколково".

Точное место проведения: г. Москва, Technopark Skolkovo LLC, капсула National Instruments, Инновационный центр "Сколково", Большой бульвар 42, корпус 1.

В деловой программе семинара:

  • Описание среды разработки LabVIEW и её возможностей
  • Создание анимированных интерфейсов в среде LabVIEW
  • Защита интерфейсов
  • Создание промышленных пользовательских интерфейсов
  • Лекция "От создателя к пользователю: как дизайн влияет на судьбу продукта"
  • Мастер-класс «Базовые принципы хорошего дизайна интерфейса»
  • Разработка интерфейсов комплекса мониторинга технологического процесса в промышленности
  • Демонстрация интерфейсных изменений в новой версии LabVIEW – Software Technology Preview
  • Мастер-класс по основам программирования в среде разработки LabVIEW
  • Мастер-класс по основным инструментам для создания пользовательских интерфейсов в среде LabVIEW

Посмотреть полную программу и зарегистрироваться можно по данной ссылке.

www.ni-events.timepad.ru


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника