EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Анализ покрытия для LTE MIMO

Анализ покрытия для LTE MIMO

09.03.2012

Анализатор радиосетей TSMW и ПО для анализа покрытия ROMES теперь могут быть использованы для специальных измерений LTE MIMO в конфигурациях антенных систем 4х2 и 2х2. Может производиться захват реальных сценариев для подтверждения характеристик MIMO для LTE FDD (поддержка TD-LTE будет реализована в первом полугодии 2012).
Измерения основаны на расчетах комплексной H-канальной матрицы для соты и для ресурсных блоков, что позволяет в дальнейшем более детально изучать такие проблемы как интерференция, многолучевость, корреляцию антенн и шум. По данной матрице рассчитывается сингулярное значение, характеризующее условия работы MIMO: от «MIMO не применимо» до «хорошие условия для MIMO». Естественно, что данные условия в первую очередь зависят от отношения «сигнал-шум».
Данные измерения позволят определить:

  • Где MIMO работает лучше.
  • Определить усиление MIMO в реальных условиях.
  • Оптимизировать работу.

Для измерений MIMO требуется ПО ROMES версии 4.65, опции TSMW-K29 и TSMW-K30 для двухканального анализатора TSMW и MIMO антенны TSMW-Z7/Z8. Дополнительные антенны используются из-за того, что работа MIMO сильно зависит от дизайна антенны. Поэтому штатные антенны TSMW будут давать различные результаты относительно мобильных телефонов. TSMW-Z7/Z8 имеют дизайн, аналогичный антеннам мобильных устройств.

Rohde & Schwarz
www.rohde-schwarz.ru

О компании: Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
Роберт Нортон Нойс
12.12.1843
День рождения
Марсель Депре
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.