English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(643)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(538)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Технический семинар NI “Проектирование и разработка систем автоматизированных испытаний и КПА: от тестеров ЭКБ до имитации внешней среды радиоэлектронных систем”

Технический семинар NI “Проектирование и разработка систем автоматизированных испытаний и КПА: от тестеров ЭКБ до имитации внешней среды радиоэлектронных систем”

14.09.2017

Компания National Instruments приглашает Вас принять участие в техническом семинаре, посвященном применению технологий модульных приборов для построения автоматизированных систем тестирования, КПА и тестеров ЭКБ.

Дата и место проведения: 19 сентября 2017, Москва, гостиница "Рэдиссон Славянская", пл. Европы, д. 2.

Будут рассмотрены такие задачи, как создание стендов тестирования и КПА для блоков и систем различной направленности, входной и выходной контроль ЭКБ, интеллектуальное тестирование сложных систем с помощью полунатурного моделирования и программно-аппаратной имитации подсистем.

В ходе семинара специалисты National Instruments расскажут о лучших практиках построения систем параметрического и функционального тестирования радиоэлектроники, от тестеров ЭКБ до имитации внешней среды радиоэлектронных систем. Партнеры и заказчики поделятся своим опытом реализации сложных комплексных проектов с помощью технологий и продуктов National Instruments.

Участие в мероприятии бесплатное, по предварительной регистрации. Пройти регистрацию, а также ознакомиться с подробной программой мероприятия можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
23.04.1858
День рождения