EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Измерение параметров паразитного излучения устройств LTE

Измерение параметров паразитного излучения устройств LTE

15.03.2012

Стандарт LTE определяет 43 частотных диапазона и 6 полос в каждом из диапазонов. Измерение паразитного излучения LTE устройств традиционным методом потребовало бы отдельного шкафа для размещения всех 258 фильтров, необходимых для подавления основного сигнала, для всех сочетаний диапазонов и частотных полос.

Компания Rohde&Schwarz представляет новый подключаемый модуль R&S®OSP-B155, который позволяет обойтись без режекторных фильтров путем оптимизации мощности сигнала LTE для максимального использования динамического диапазона измерительного приемника. Новый модуль включает МШУ для диапазонов LTE, а также ФНЧ и ФВЧ в диапазоне от 30МГц до 18ГГц. Он спроектирован для использования совместно с измерительным приемником ЭМП высшего класса R&S®ESU и программным обеспечением для измерения ЭМП R&S®EMC32, а также может использоваться совместно с радиокоммуникационным тестером R&S®CMW500.

Более подробную информацию о модульной платформе для управления и коммутации ВЧ сигналов можно найти на странице http://www.rohde-schwarz.ru/products/test_and_measurement/komponeti_sistem/osp/.

Rohde & Schwarz

www.rohde-schwarz.ru


О компании: Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств
Стибиц Джордж
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.