English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(641)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(536)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар "ВЧ Платформа National Instruments для разработки и тестирования радиосредств и ЭКБ"

Семинар "ВЧ Платформа National Instruments для разработки и тестирования радиосредств и ЭКБ"

06.10.2017

Компания National Instruments приглашает принять участие в семинаре "ВЧ Платформа National Instruments для разработки и тестирования радиосредств и ЭКБ", который пройдёт 10 октября 2017 в Киеве.

Адрес мероприятия: ул. Р. Окипной, д. 2, отель "Турист", конференц-зал.

В ходе семинара будут представлены новинки компании National Instruments для автоматизации измерений и тестирования компонентов и узлов электронных и радиотехнических систем, а также решения для цифровой обработки радиосигналов, макетирования сложных СВЧ систем, тестирования радиоэлектронных устройств и ЭКБ.

Вы получите уникальную возможность обсудить свои задачи с инженерами-разработчиками, которые ответят на Ваши вопросы и поделятся опытом разработки систем тестирования и других программно-аппаратных комплексов.

Участие в семинаре бесплатное, по предварительной регистрации.

Посмотреть полную программу семинара, а также зарегистрироваться можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
11.04.1956
день рождения