English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(643)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(538)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар «Решения для разработки и тестирования электроники на базе технологий National Instruments»

Семинар «Решения для разработки и тестирования электроники на базе технологий National Instruments»

26.10.2017

1 ноября 2017 г. в Ярославле компания National Instruments проводит семинар, посвященный применению технологий модульных приборов и программно-определяемых радиоизмерительных систем при решении исследовательских и инженерных задач.

Семинар пройдёт по адресу: Ярославль, SK Royal Hotel Yaroslavl, Которосльная набережная, 55.

В ходе семинара специалисты National Instruments расскажут о лучших практиках проектирования, отработки и испытания узлов и приборов для систем связи, радиолокации, радионавигации, РЭБ и смежных областей. Будут продемонстрированы новинки программных и аппаратных продуктов компании.

Участие в мероприятии бесплатное, по предварительной регистрации.

Посмотреть полную программу мероприятия, а также зарегистрировать можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств