English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(564)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(653)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(94)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(125)
Новости Росстандарта(149)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

О чем говорят характеристики устройств сбора данных. Вебинар National Instruments

О чем говорят характеристики устройств сбора данных. Вебинар National Instruments

25.01.2018

26 января 2018 г. компания National Instruments проведет вебинар, предназначенный для инженеров и ученых, которые хотят узнать об основных характеристиках, важных для разработки измерительных систем, систем сбора и обработки данных (DAQ). Длительность вебинара примерно 30 минут, после чего, инженеры NI смогут ответить на ваши вопросы.

Время вебинара: 11:00 – 12:00 (по Москве).

Ознакомьтесь с основными принципами и факторами, имеющими большое значение для подключения датчиков, измерения аналоговых сигналов и сбора цифровых данных.

В этой бесплатной трансляции раскрываются следующие темы:

  • Характеристики аналоговых и цифровых сигналов
  • Частота дискретизации
  • Типы запуска
  • Разрешающая способность (Повторяемость) и погрешность
  • Усиление, деление, фильтрация и изоляция

Зарегистрироваться на мероприятие можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 2 Июнь 2021
КИПиС 2021 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.