EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Семинар по стендовым испытаниям от National Instruments

Семинар по стендовым испытаниям от National Instruments

08.03.2018

Семинар пройдёт в Москве, 22 марта 2018.

Адрес: гостиница "Рэдиссон Славянская", пл. Европы, д.2.

Семинар предназначен для инженеров и руководителей групп разработчиков, заинтересованных в применении современных технологий.

Постоянное усложнение продукции современной̆ промышленности выдвигает все более сложные требования к системам автоматизации измерений, от входного контроля компонентной̆ базы и параметрического тестирования отдельных блоков до сложного функционального тестирования комплексных систем в условиях, максимально приближенным к реальным. С другой̆ стороны, ставятся все более сжатые временные рамки, как для тестирования, так и для разработки систем тестирования.
Для решения этих задач сегодня необходимо использовать современные подходы, позволяющие не только создать систему, наилучшим образом решающую текущую задачу, но и готовую к обновлению и модификации по мере изменения продукции и требований.

В ходе семинара специалисты National Instruments расскажут о лучших практиках построения систем тестирования и новинках программных и аппаратных средств, а партнеры и заказчики поделятся своим опытом реализации сложных комплексных проектов с помощью технологий и продуктов National Instruments.

В программе семинара:

  • Актуальные задачи автоматизированных систем измерения, управления и моделирования
  • Встраиваемые системы мониторинга и управления
  • Автоматизированные системы управления стендовыми испытаниями
  • Технологии быстрого прототипирования и программно-аппаратного моделирования (HIL)

В рамках семинара пройдет выставка оборудования.

Зарегистрироваться можно по данной ссылке.

www.ni.com


О компании: NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
13.12.1816
День рождения
Вернер фон Сименс
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.