EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Тестирование устройств NFC с Rohde&Schwarz

Тестирование устройств NFC с Rohde&Schwarz

21.09.2012

Компания выпустила программное обеспечение FS-K112PC, поддерживающее анализ сигналов NFC с запрашивающего и отвечающего устройств. ПО может управлять анализаторами спектра R&S®FSV/R&S®FSL и осциллографом R&S®RTO с опцией RTO-K11. Может быть автоматически определен метод передачи (NFC-A, NFC-B или NFC-F), измерены параметры модуляции, длительность фронтов и задержка ответного сигнала, учтены параметры эталонных устройств NFC forum и произведено сравнение со стандартизированными ограничительными линиями на излучение.


О компании: Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.