English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(538)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем

Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем

24.02.2014

Компания National Instrument проведёт конференцию «Технологии National Instruments для тестирования и разработки радиоэлектронных комплексов и систем» 26 февраля. Место проведения: Москва, Конгресс-центр МТУСИ, м. «Авиамоторная», ул. Авиамоторная, 8а. Начало в 10:00.

В программе конференции:

  • Новые продукты National Instruments для решения задач разработки и контроля СВЧ аппаратуры;
  • АРМ СВЧ - универсальные автоматизированные рабочие места для разработки, регулировки и контроля СВЧ аппаратуры в диапазоне частот до 26.5 ГГц;
  • NI SDR - технологии National Instruments для систем программно-опрделяемого радио на базе ПЛИС;
  • NI MIMO – многоканальные векторные когерентные генераторы и анализаторы СВЧ сигналов – технология контроля разницы фаз СВЧ сигналов с точностью до 0.1 град;
  • Расширенные возможности платформы NI PXI при работе с СВЧ сигналами;
  • Выступления партнеров и заказчиков National Instruments об опыте применения технологий National Instruments.

Зарегистрироваться на мероприятие можно на сайте National Instruments.


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств