English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(549)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(636)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(90)
Новости Rohde & Schwarz(530)
Новости Tektronix(217)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(116)
Новости Росстандарта(142)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Rohde & Schwarz приглашает на VIII-ую Международную отраслевую научно-техническую конференцию “Технологии информационного общества”

Rohde & Schwarz приглашает на VIII-ую Международную отраслевую научно-техническую конференцию “Технологии информационного общества”

20.02.2014

Московское представительство Rohde & Schwarz приглашает Вас 20 и 21 февраля 2014 года посетить VIII-ую Международную отраслевую научно-техническую конференцию “Технологии информационного общества”.

В рамках конференции специалисты компании Rohde & Schwarz выступят с докладом на тему «Оборудование SwissQual - аппаратно-программные комплексы для проведения радиоизмерений, драйв тестов и бенчмаркинга».

Семинар состоится по адресу:
111024, Москва, Авиамоторная 8а
Московский технический университет связи и информатики
Конгресс-центр

Время проведения
c 20 по 21 февраля 2014г. с 10-00 до 19-00

Посмотреть план мероприятия.

Rohde & Schwarz


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.02.1786
День рождения
26.02.1911
День рождения ученого, исследовавшего поляризацию вакуума