![Новости AKTAKOM Новости AKTAKOM](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-730.png) | (574) |
![Новости Anritsu Новости Anritsu](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-665.png) | (121) |
![Новости Fluke Новости Fluke](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-288.png) | (134) |
![Новости Keithley Новости Keithley](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-292.png) | (78) |
![Новости Keysight Technologies Новости Keysight Technologies](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-289.png) | (666) |
![Новости Metrel Новости Metrel](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-305.png) | (24) |
![Новости National Instruments Новости National Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-294.png) | (265) |
![Новости Pendulum Новости Pendulum](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-293.png) | (20) |
![Новости Rigol Новости Rigol](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-291.png) | (96) |
![Новости Rohde & Schwarz Новости Rohde & Schwarz](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-290.png) | (558) |
![Новости Tektronix Новости Tektronix](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-287.png) | (225) |
![Новости Texas Instruments Новости Texas Instruments](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-666.png) | (23) |
![Новости Yokogawa Новости Yokogawa](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-667.png) | (132) |
![Новости Росстандарта Новости Росстандарта](/bitrix/templates/kipis_ru_default/components/bitrix/catalog.section.list/kipis_ru_companies-news_list/images/compnews-1531.png) | (154) |
|
Семинар "Технологии и решения National Instruments для измерений, автоматизации и моделирования при исследовании летательных аппаратов"
Семинар "Технологии и решения National Instruments для измерений, автоматизации и моделирования при исследовании летательных аппаратов"
22.10.2018
26 октября 2018 г. в Москве пройдет семинар "Технологии и решения National Instruments для измерений, автоматизации и моделирования при исследовании летательных аппаратов". Семинар NI ориентирован на специалистов ЦАГИ, занимающихся разработкой информационно-измерительных систем и систем управления, аппаратно-программным моделированием и обработкой экспериментальных данных.
Точное место проведения: Центральный аэрогидродинамический институт имени профессора Н. Е. Жуковского (ФГУП «ЦАГИ»)
г. Жуковский, Московская область, ул. Жуковского, 1. Зал НТС, корпус 19а, 3 этаж.
В программе семинара:
-
Подход National Instruments к решению задач автоматизации экспериментальных исследований:
- Обзор спектра задач и компетенций NI в исследовании авиационной техники
- Программно-аппаратные платформы NI, их взаимосвязь и основные особенности: USB DAQ, PXI, Compact DAQ, CompactRIO, FieldDAQ
-
Графическая среда разработки приложений NI LabVIEW для автоматизации экспериментов, обработки и визуализации результатов измерений:
- Новое поколение LabVIEW NXG для систем сбора данных и управления
- LabVIEW 2018 для программирования систем реального времени и ПЛИС
-
Информационно-измерительные системы для исследовательских и испытательных стендов:
- Модульная аппаратура формата PXI и C-Series для создания многоканальных и мобильных измерительных систем
- Технологии и решения для проведения высокоточных измерений физических величин при статических и динамических испытаниях летательных аппаратов
- Новое интерактивное программное обеспечение NI FlexLogger для проведения измерений и анализа данных без программирования
-
Технологии NI для программно-аппаратного моделирования (HIL, MIL, SIL) и управления режимах жесткого реального времени:
- Программно-аппаратная платформа NI Real-Time для систем под управлением ОС реального времени
- Архитектура создания полунатурных стендов для аппаратного моделирования агрегатов и систем ЛА
- Программное обеспечение NI VeriStand и NI LabVIEW MIT для интеграции математических моделей из сторонних сред моделирования
-
Решения NI для управления экспериментальными данными:
- Проблемы хранения экспериментальных данных, поиска и визуализации исходных данных и результатов обработки
- Автоматизация процессов индексации, стандартизации и анализа экспериментальных данных в рамках больших проектов и подразделений
Для участия необходимо зарегистрироваться.
www.ni.com
О компании:
NI
Возврат к списку
Материалы по теме:
|
События из истории измерений
|