![]() |
![]() |
|
![]() |
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Одиннадцатая научно-практическая конференция «Инженерные и научные приложения на базе технологии National Instruments - 2012»12.12.2012
Специалисты компании National Instruments провели 6 технических саммитов, на которых рассказали о новых устройствах сбора данных и многоканальных системах измерения, о ВЧ-платформе NI для приложений связи и телекоммуникаций, о промышленных системах мониторинга и АСУТП, о встраиваемых многоканальных и масштабируемых контрольно-измерительных системах, применяемых для проведения стендовых испытаний и автоматизации технологических процессов на предприятии, а также о практикумах по техническим дисциплинам. В этом году на конференции прошли семь мастер-классов. Более 280 участников конференции смогли получить информацию по применению модульных приборов NI, использованию высокопроизводительных ВЧ платформ и платформ для измерений сигналов с датчиков, созданию встраиваемых систем на основе платформы Compact RIO. В рамках конференции также прошли мастер-классы, посвященные основам программирования в LabVIEW для начинающих и подробному разбору новых возможностей версии LabVIEW 2012 для опытных программистов. На 6-ти тематических секциях выступили представители ведущих предприятий авиационной и ракетно-космической отраслей, энергетики и транспорта, а также научные сотрудники и преподаватели крупнейших технических ВУЗов страны.
На выставке конференции было представлено более 30 демонстраций технологий National Instruments, включая модульные системы PXI, радиоизмерительные системы, встраиваемые системы, платформа NI ELVIS II для образования с практикумами по техническим дисциплинам, а также ряд работ по автоматизации учебных практикумов, научных и исследовательских стендов, промышленных задач, выполненных образовательными центрами National Instruments из МГУ им. Ломоносова, ВлГУ, компанией ЦАТИ, СГАУ, ОрелГТУ, фирмой Quanser и представителями Российского сообщества разработчиков LabVIEW Portal. Более 20 докладчиков и участников конференции были отмечены оргкомитетом на тожественном закрытии конференции. О компании: NI Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
|