English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(552)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(641)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(536)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Одиннадцатая научно-практическая конференция «Инженерные и научные приложения на базе технологии National Instruments - 2012»

Одиннадцатая научно-практическая конференция «Инженерные и  научные приложения на базе технологии National Instruments - 2012»

12.12.2012

6-7 декабря 2012 года в Конгресс-центре МТУСИ прошла одиннадцатая международная научно-практическая конференция «Инженерные и научные приложения на базе технологий National Instruments - 2012»., на которую зарегистрировались более 650 руководителей предприятий, инженеров, профессоров, преподавателей и студентов из более чем 50 городов России, Казахстана, Армении, Украины и Белоруссии. На секциях конференции, посвященных радиотехнике и беспроводным технологиям, стендовым испытаниям и многоканальным системам сбора данных, системам управления реального времени и системам аппаратно-программного моделирования, промышленным системам мониторинга и АСУ ТП, лабораторным практикумам и учебным стендам, автоматизации научного эксперимента было представлено более 140 докладов.

На открытии конференции выступили представители руководства филиала компании National Instruments в России. Их доклады были посвящены ключевым аспектам сотрудничества компании с ведущими промышленными предприятиями, научно-исследовательскими и образовательными организациям.

Специалисты компании National Instruments провели 6 технических саммитов, на которых рассказали о новых устройствах сбора данных и многоканальных системах измерения, о ВЧ-платформе NI для приложений связи и телекоммуникаций, о промышленных системах мониторинга и АСУТП, о встраиваемых многоканальных и масштабируемых контрольно-измерительных системах, применяемых для проведения стендовых испытаний и автоматизации технологических процессов на предприятии, а также о практикумах по техническим дисциплинам.

В этом году на конференции прошли семь мастер-классов. Более 280 участников конференции смогли получить информацию по применению модульных приборов NI, использованию высокопроизводительных ВЧ платформ и платформ для измерений сигналов с датчиков, созданию встраиваемых систем на основе платформы Compact RIO. В рамках конференции также прошли мастер-классы, посвященные основам программирования в LabVIEW для начинающих и подробному разбору новых возможностей версии LabVIEW 2012 для опытных программистов.

На 6-ти тематических секциях выступили представители ведущих предприятий авиационной и ракетно-космической отраслей, энергетики и транспорта, а также научные сотрудники и преподаватели крупнейших технических ВУЗов страны.

В этом году у участников конференции был уникальный шанс сдать сертификационные экзамены СLAD (Certified LabVIEW Associate Developer) в рамках международной программы сертификации разработчиков LabVIEW и получить сертификат CLAD, подтверждающий знание основных принципов разработки приложений в LabVIEW и умение читать и интерпретировать существующий графический код LabVIEW. Наличие у разработчика сертификата подтверждает уровень профессионализма и способствует его карьерному росту.

На выставке конференции было представлено более 30 демонстраций технологий National Instruments, включая модульные системы PXI, радиоизмерительные системы, встраиваемые системы, платформа NI ELVIS II для образования с практикумами по техническим дисциплинам, а также ряд работ по автоматизации учебных практикумов, научных и исследовательских стендов, промышленных задач, выполненных образовательными центрами National Instruments из МГУ им. Ломоносова, ВлГУ, компанией ЦАТИ, СГАУ, ОрелГТУ, фирмой Quanser и представителями Российского сообщества разработчиков LabVIEW Portal.

Более 20 докладчиков и участников конференции были отмечены оргкомитетом на тожественном закрытии конференции.

National Instruments


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
14.04.1629
День рождения