English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(571)
Новости Anritsu(120)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(656)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(129)
Новости Росстандарта(150)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Компания Tektronix представляет решение для тестирования устройств стандарта PCI EXPRESS® 5.0

Компания Tektronix представляет решение для тестирования устройств стандарта PCI EXPRESS® 5.0

10.03.2021

Компания Tektronix, Inc., в сотрудничестве с Anritsu, представляет новое решение для тестирования приемников PCI EXPRESS® 5.0 (Base и CEM) и генераторов опорной частоты, став первой компанией, предлагающей оснастки CEM для предварительного тестирования на соответствие стандарту. Сотрудничество между Tektronix и Anritsu позволило усовершенствовать ведущее в мире решение по тестированию приемников, добавив возможности по проверке передатчиков и сигналов опорной частоты.

PCI EXPRESS продолжает укреплять свое лидерство в отрасли в качестве доминирующей высокоскоростной последовательной компьютерной шины, удваивая пропускную способность каждые три года и превышая целевые показатели благодаря опережающему введению спецификации Base 5.0 (128 ГБ/с). Ожидается, что эти быстрые темпы развития продолжатся, поскольку организация PCI-SIG®, устанавливающая стандарты передачи данных ввода/вывода периферийных компонентов, объявила о том, что в 2021 г. выйдет спецификация PCI EXPRESS 6.0 (256 ГБ/с), которая будет включать передачу с помощью многоуровневой модуляции PAM4.

Производители серверов и устройств хранения данных быстро переходят на PCI EXPRESS 5.0 из-за новых требований, предъявляемых 400-гигабитным Ethernet, облачным искусственным интеллектом и моделированию (сопроцессорам) и прочими технологиями. Столь быстрое развитие вызывает появление совершенно нового набора контрольно-измерительных задач, традиционно разделенных на проверку полупроводниковых приборов на базовом уровне и тестирование соответствия CEM согласно стандартам PCI-SIG.

Решение Tektronix по тестированию приемников и тактовых сигналов PCI EXPRESS 5.0 было разработано в соответствии со спецификациями 5.0 Base, спецификациями 5.0 CEM и спецификациями для тестирования PCIe 5.0.

Ключевые преимущества:

  • Решение для автоматизированного тестирования передатчиков PCI EXPRESS 5.0 (32 ГТ/с) Base и CEM работает на осциллографах реального времени серии DPO70000SX и анализаторах качества сигналов MP1900A серии R (BERT) от Anritsu
  • Новое программное обеспечение для тестирования приемников от Tektronix с высокоэффективными алгоритмами для калибровки «стрессовых» глазковых диаграмм на скоростях 32 ГТ/с и 16 ГТ/с.
  • Поддержка новейшего программного обеспечения, включая SigTest Phoenix с высокой степенью распараллеливания обработки данных для сокращения общего времени тестирования
  • Различные форм-факторы (M.2 и U.2) и виды архитектур синхронизации (CC, SRNS, SRIS)
  • В соответствии с развитием спецификации 5.0 Base до скоростей передачи 32 ГТ/с реализованы измерения некоррелированного джиттера и джиттера ширины импульса с целью оптимизации диапазона АЦП и минимизации шума
  • Растущие проблемы измерения джиттера тактовой частоты 100 МГц и целостности сигнала решены благодаря полной интеграции с программным обеспечением PCIe Clock Jitter от Silicon Labs и DPOJET от Tektronix
  • Первые в отрасли тестовые оснастки для предварительного тестирования на соответствие CEM для PCIe 5.0

По материалам: Tektronix
www.tek.com


О компании:  Tektronix

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.