EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Прибор компании Keithley 4200-SCS - финалист конкурса «Test of Time 2010»

Прибор компании Keithley 4200-SCS - финалист конкурса «Test of Time 2010»

01.02.2010

По мнению производителя, модель Keithley 4200-SCS пользуется стабильно растущей популярностью с момента ее производства в 2000 году. Эта популярность была завоевана благодаря удобному и интуитивно-понятному интерфейсу прямого доступа (point-and-click interface), встроенному персональному компьютеру для анализа результатов испытаний, высокой точности, при нижнем уровне измерения до 0,1 фА (1Е-16А). Уже самая первая конфигурация прибора предоставила решение «все в одном» для определения характеристик полупроводниковых приборов по постоянному току и их испытаний на надежность в предельных режимах.

Дальнейшая модернизация расширила как стандартный набор функций, так и набор дополнительных опций (включая аппаратную поддержку C-V-измерителей и генераторов импульсов). Keithley добавили эти функции в 4200-SCS таким образом, чтобы не принуждать пользователей к отказу от существующего оборудования и замене его на более новое (и более дорогое) оборудование. Компания сообщает, что эта политика рентабельной модернизации значительно расширила область применения 4200-SCS. Теперь, области применения включают в себя технологию моделирования полупроводников, анализ входного сигнала, анализ неисправностей, тестирование надежности и долговечности прибора, испытания для исследований в области микроэлектроники и нанотехнологий, определение характеристик диэлектриков, тестирование флэш-памяти, импульсное тестирование полупроводниковых устройств, тестирование эффекта Холла, моделирование устройства и определение характеристик солнечных батарей.

Другие финалисты конкурса на сайте журнала “T&MWorld”:

http://www.tmworld.com/article/441499-Test_of_Time_Finalists_2010.php



Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.