English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(649)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(544)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

2-ой Московский Международный симпозиум метрологов

2-ой Московский Международный симпозиум метрологов

17.05.2010

18 мая на ВВЦ состоится торжественное открытие 2-го Московского Международного симпозиума метрологов и 6-ая Международной выставки-конкурса средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2010». Оба этих мероприятия посвящены Всемирному Дню метрологии и продлятся до 20 мая 2010 г.

Московский Международный Симпозиум метрологов объединяет до 120 выступлений по актуальным темам в области метрологического обеспечения промышленных отраслей и свыше 2500 специалистов из 20 стран.

Выставка «Метрология» - это более 200 компаний-участников из 14 стран мира, до 20 коллективных экспозиций федеральных агентств и ведомств, госкорпораций, крупнейших холдингов и объединений, более 50 региональных ЦСМ и метрологических институтов, свыше 6500 посетителей. Общая площадь выставки составляет более 4500 м.кв. и расположена на 2-х этажах павильона.

Общая информация о мероприятии

Дата проведения: 18-20 мая 2010 г.

Место проведения: г.Москва, ВВЦ (м.ВДНХ), павильон №55

План проезда к павильону и время работы: www.metrol.expoprom.ru/visit/total_info.php

Пригласительный билет: http://www.metrol.expoprom.ru/visit/ticket.php


На пленарном заседании Симпозиума планируется выступление официальных лиц:

  • В.Ю. Саламатов (Заместитель Министра промышленности и торговли РФ, МИНПРОМТОРГ России)
  • Г.И. Элькин (Педседатель оргкомитета симпозиума, д.э.н., Руководитель Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии, Россия)
  • В.Н. Крутиков (д.т.н., Заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии, Россия)
  • и другие

Также планируется выступление представителей Госстандартов стран СНГ (Украина, Белоруссия), представителей государственных регулирующих организаций Евросоюза и выступления представителей Метрологических организаций и Центров стандартизации, метрологии.

С подробной программой Московского Международного Симпозиум метрологов можно познакомиться на официальном сайте мероприятия: http://www.metrol.expoprom.ru/symposium/programm.php

Подробную информацию по выставке «Метрология-2010» можно найти на сайте: www.metrol.expoprom.ru



Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.