EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Интервью с Ги Сене (Guy Séné), Старшим Вице-президентом группы электронных измерений новой компании Keysight Technologies

Интервью с Ги Сене (Guy Séné), Старшим Вице-президентом группы электронных измерений новой компании Keysight Technologies

01.07.2014

25 июня, в офисе компании Agilent Technologies (Keysight Technologies), Москва, состоялась встреча с господином Ги Сене (Guy Séné), Вице-президентом группы электронных измерений, который любезно согласился дать интервью для нашего журнала.

В преддверии разделения компании мы не могли не поинтересоваться мнением относительно продукции компании, направлений, в которых она будет двигаться и дальнейших перспектив.

Полное интервью Вы сможете прочитать в августовском номере нашего журнала – КИПиС №4.

Следите за новостями нашего сайта! Будьте в курсе событий из мира измерительной техники!



Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.