EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Отладка и проверка высокопроизводительных схем, использующих смешанные сигналы

Cовременные встраиваемые вычислительные системы постоянно наращивают мощность за счет применения высокоскоростных шин и стандартных подсистем, а также повышения степени интеграции ИМС. Но параллельно с этим растет их сложность и чувствительность к качеству сигнала, что замедляет диагностику и отладку.

И хотя многие технологии, широко применяемые в высокопроизводительных цифровых системах, опираются на существующие стандарты, основной целью тестирования является проверка синхронизации всех элементов и их взаимодействия в составе системы. Устройства могут состоять из нескольких подсистем, некоторые из которых должны взаимодействовать друг с другом и с внешним оборудованием. В этом случае приходится расширять тестирование, проверяя синхронность работы встроенных функций и взаимодействие подсистем друг с другом. Для такого тестирования нужны средства, позволяющие оценивать поведение не только отдельных элементов, но и всей системы в целом.

В статье рассматриваются методы диагностики и отладки сложных систем при помощи осциллографов смешанных сигналов MSO70000 компании Tektronix.  


Автор(ы): Тревор Смит (Trevor Smith)
Номер журнала: КИПиС 2009 № 6
Читать в PDF: Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.