Отладка и проверка высокопроизводительных схем, использующих смешанные сигналы

Cовременные встраиваемые вычислительные системы постоянно наращивают мощность за счет применения высокоскоростных шин и стандартных подсистем, а также повышения степени интеграции ИМС. Но параллельно с этим растет их сложность и чувствительность к качеству сигнала, что замедляет диагностику и отладку.

И хотя многие технологии, широко применяемые в высокопроизводительных цифровых системах, опираются на существующие стандарты, основной целью тестирования является проверка синхронизации всех элементов и их взаимодействия в составе системы. Устройства могут состоять из нескольких подсистем, некоторые из которых должны взаимодействовать друг с другом и с внешним оборудованием. В этом случае приходится расширять тестирование, проверяя синхронность работы встроенных функций и взаимодействие подсистем друг с другом. Для такого тестирования нужны средства, позволяющие оценивать поведение не только отдельных элементов, но и всей системы в целом.

В статье рассматриваются методы диагностики и отладки сложных систем при помощи осциллографов смешанных сигналов MSO70000 компании Tektronix.  

Автор(ы): Тревор Смит (Trevor Smith)
Номер журнала: КИПиС 2009 № 6
Читать в PDF: Читать