![]() |
![]() |
|
![]() |
![]() |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на рассылку
|
National Instruments реализует возможности тестеров цифровых микросхем в PXI
Компания National Instruments, разработчик систем на основе платформы, позволяющих инженерам и ученым решать сложнейшие инженерные задачи, анонсировала прибор для работы с векторными цифровыми последовательностями NI PXIe-6570 Digital Pattern Instrument и редактор векторных последовательностей NI Digital Pattern Editor. Эти продукты освобождают производителей радиочастотных интегральных схем (RFIC), интегральных схем управления питанием, микроэлектромеханических систем (MEMS) и цифро-аналоговых интегральных схем от закрытых архитектур традиционных тестеров микросхем.
Номер журнала: КИПиС 2016 № 5 Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Свежий номер
События из истории измерений
27.02.1932
|
|
|
© "Контрольно-измерительные приборы и системы" ("КИПиС"), 1996-2021. Все права защищены. Политика конфиденциальности | |