English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(571)
Новости Anritsu(120)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(656)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(129)
Новости Росстандарта(150)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Модульная платформа PXI от National Instruments — 13 лет инноваций и взгляд в будущее

Появление стандарта PXI привнесло новый взгляд на программно-определяемые технологии и модульные приборы применительно к системам автоматизированного тестирования. В течение последнего десятилетия PXI утвердился в качестве стандарта для автоматизации измерений, а рынок измерительной техники значительным образом сдвинулся в сторону модульных платформ на его базе.

Данная статья расскажет о развитии и архитектуре стандарта PXI, в качестве примеров приводятся модульные приборы и ПО компании National Instruments.


Номер журнала:  КИПиС 2010 № 6

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.