|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
50-летний юбилей национальной метрологической системы США21-25 августа 2011 в Вашингтоне (Gaylord National Convention Center, National Harbor, MD, США) прошел международный симпозиум метрологов, который собрал более 2000 человек. Девиз симпозиума «50 лет: Размышляя о прошлом — смотрим в будущее». Обзор данного мероприятия также включает небольшое интервью Виктора Саприцкого, доктора технических наук, профессора, руководителя лаборатории фотометрии ВНИИОФИ. Автор(ы): Афонская Т.Д., Афонский А.А. Номер журнала: КИПиС 2011 № 5 Читать в PDF: Читать Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Обзоры и анонсы выставок
Статьи КИПиС
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Читайте бесплатно
События из истории измерений
09.12.1883
Родился советский ученый, механик, специалист в области механики и гидродинамики
|