English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(561)
Новости Anritsu(119)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(651)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(122)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Современные возможности анализа джиттера в высокоскоростных цифровых устройствах на примере опции R&S RTO-K12

В настоящее время принято считать, что джиттер имеет детерминированные и случайные компоненты. Детерминированный джиттер определяется системными источниками, такими как перекрестные и межсимвольные помехи, а также колебаниями напряжения электропитания. Он всегда ограничен и может быть охарактеризован пиковым значением для заданной топологии и конфигурации цифрового узла...

Автор(ы):  Лемешко Н.В. / Струнин П.А.
Номер журнала:  КИПиС 2019 № 2

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 2 Июнь 2021
КИПиС 2021 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
09.08.1776
Родился итальянский ученый, физик и химик
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.