![]() |
![]() |
|
![]() |
![]() |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на рассылку
|
Анализ скорости измерения уровня паразитного излучения с помощью анализаторов спектра
Паразитные излучения испытуемого устройства (ИУ) могут быть вызваны нежелательными эффектами, такими как гармонические излучения, побочные излучения, интермодуляционные составляющие и паразитные составляющие при преобразовании частоты. Измерение низкоуровневого паразитного излучения передатчика требует наибольших затрат времени, так как для проведения измерения необходимо добиваться крайне низкого уровня собственных тепловых шумов анализатора. Чтобы исключить собственный шум анализатора спектра, требуется малая полоса разрешения. Чем уже полоса разрешения, тем больше время измерения и меньше скорость развертки. На скорость выполнения измерения паразитного излучения сильно влияет архитектура анализатора спектра.
Источник: www.rohde-schwarz.ru Номер журнала: КИПиС 2012 № 6 Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Свежий номер
События из истории измерений
|
|
|
© "Контрольно-измерительные приборы и системы" ("КИПиС"), 1996-2021. Все права защищены. Политика конфиденциальности | |