EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Анализ скорости измерения уровня паразитного излучения с помощью анализаторов спектра

Паразитные излучения испытуемого устройства (ИУ) могут быть вызваны нежелательными эффектами, такими как гармонические излучения, побочные излучения, интермодуляционные составляющие и паразитные составляющие при преобразовании частоты. Измерение низкоуровневого паразитного излучения передатчика требует наибольших затрат времени, так как для проведения измерения необходимо добиваться крайне низкого уровня собственных тепловых шумов анализатора. Чтобы исключить собственный шум анализатора спектра, требуется малая полоса разрешения. Чем уже полоса разрешения, тем больше время измерения и меньше скорость развертки. На скорость выполнения измерения паразитного излучения сильно влияет архитектура анализатора спектра.

Источник: www.rohde-schwarz.ru


Номер журнала: КИПиС 2012 № 6

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.