EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости компаний

RSS

14.09.2010 | 2967
Среда NI VeriStand 2010 оптимизирована для использования с широким спектром платформ National Instruments Компания National Instruments представила программное обеспечение NI VeriStand 2010, обладающее усовершенствованными возможностями для аппаратно-программного моделирования (HIL) и испытаний в реальном времени, благодаря поддержке широкого спектра оборудования National Instruments. Данное ПО также обладает тесной интеграцией со средой графической разработки NI LabVIEW, позволяя производить дальнейшее конфигурирование программ LabVIEW в NI VeriStand.
09.09.2010 | 5353
National Instruments представляет новый модуль интеррогатора для сбора данных с оптических датчиков Компания National Instruments объявила о выходе модуля интеррогатора NI PXIe-4844 в форм-факторе PXI Express для сбора данных с оптических датчиков FBG (fiber Bragg grating). В отличие от широко распространенных электрических датчиков, новые модули позволяют проводить распределенные измерения в зонах с повышенным уровнем ЭМИ.
06.08.2010 | 2552
NIWeek 2010: итоги работы Вчера, 5 августа 2010 г., завершила свою работу NIWeek 2010 – ведущая конференция и выставка по системам графического проектирования. Подведем итог наиболее ярких событий конференции.
05.08.2010 | 2566
Интервью с Вице-президентом по продажам в азиатском регионе компании National Instruments 4 августа, в рамках конференции NIWeek 2010 нашему журналу дал интервью Виктор Мерес (Victor Mieres), Вице-президент по продажам в азиатском регионе компании National Instruments. В частности, он ответил на вопросы, касающиеся стратегии развития компании и продвижения продукции на российском рынке, развития направления устройств сбора данных формата PCI/PXI Express и разработки новых продуктов. Нам также удалось побеседовать с Брайаном Беттсом, старшим менеджером группы продукции по сбору данных (Brian Betts, Sr. Group Manager Data Acquisition).
04.08.2010 | 2462
Первый день работы NIWeek 2010    Во вторник, 3 августа, состоялся первый день ведущей конференции и выставки по системам графического проектирования NIWeek 2010. Были представлены лучшие разработки National Instruments в этом году, среди них: векторный анализатор цепей на базе PXI, новая версия LabView и новая платформа сбора данных с интерфейсом Ethernet. Вечером, в банкетном зале отеля «Four Sesons» состоялось награждение лучших разработок на базе программного обеспечения NI.
03.08.2010 | 2301
Открытие и Первый день конференции NIWeek 2010 Сегодня, 3 августа, тысячи наиболее выдающихся инженеров, ученых, изобретателей, преподавателей и студентов собираются в г.Остин (штат Техас, США) на NIWeek 2010 - ведущей конференции и выставке по системам графического проектирования.
02.08.2010 | 3056
Платформа машинного зрения National Instruments с поддержкой ОС Windows 7 и интерфейсом Camera Link Компания National Instruments объявила о выходе систем машинного зрения на базе ОС Windows с интерфейсом Camera Link. Новые системы NI EVS-1463 и EVS-1464 имеют встроенный жесткий диск, объемом 80 ГБ, достаточный для хранения видеоданных. Все вышеперечисленные системы дополняют модельный ряд встраиваемых систем машинного зрения компании National Instruments, включающий систему EVS-1464RT c интерфейсами камер GigE Vision и IEEE 1394b.
24.07.2010 | 4424
Платы сбора данных M и Х серии, а так же модульные источники питания компании National Instruments внесены в Госреестр СИ Модули компании National Instruments М- серии (6343, 6356, 6363, 6366, 6368) и Х- серии (NI 6221, 6251, 6255, 6259, 6281) и источники питания NI PXI 4110, 4130 зарегистрированы в Государственном реестре средств измерений и допущены к применению в Российской Федерации.
28.06.2010 | 2901
National Instruments расширяет возможности платформы NI-XNET для встроенных сетей Добавлена поддержка шины связи LIN для платформы NI-XNET. Новые интерфейсы PXI и PCI идеальны для аппаратно-программного моделирования, быстродействующего регулирования, мониторинга передачи данных по шине связи и автоматизированного управления.
21.06.2010 | 3315
National Instruments представила новые интерфейсные модули для промышленных сетей Компания National Instruments объявила о выходе интерфейсных модулей для промышленных сетей PROFIBUS, FOUNDATION Fieldbus и DeviceNet, которые позволяют интегрировать среду разработки LabVIEW , программируемые логические контроллеры (ПЛК) и встраиваемые системы в существующие промышленные сети. Новые интерфейсные модули позволяют расширить функциональность промышленных сетей и добавить возможности высокоскоростного сбора данных, обработки, дополнительных возможностей управления и внедрения web-технологий для повышения эффективности производственного процесса. Модули C-серии NI CompactRIO PROFIBUS позволяют подключать к сетям PROFIBUS промышленные системы CompactRIO и NI Single-Board RIO , которые обладают более высокой производительностью по сравнению со стандартными контроллерами для сетей PROFIBUS. Так же National Instruments представила однопортовый USB-модуль для интерфейса FOUNDATION Fieldbus и два мастер-модуля для сетей DeviceNet в формате PXI и PCI.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
13.06.1831
День рождения
Джеймс Клерк Максвелл
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.