|
EN |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на новости
|
Новое контрольно-измерительное решение компании Keysight Technologies на базе PXI ускоряет создание и анализ сигналов LTE/LTE-Advanced23.12.2014 Компания Keysight Technologies объявила о выпуске многоканального контрольно-измерительного решения для LTE/LTE-Advanced на базе PXI, которое ускоряет настройку многоканальных испытательных систем и позволяет инженерам глубже анализировать сложную агрегацию несущих и пространственное мультиплексирование MIMO. Проектирование и измерение параметров компонентов и ВЧ подсистем базовых станций, микросот, пикосот, ретрансляторов и мобильных терминалов постоянно усложняется в связи с тем, что многоантенные конструкции требуют применения всё более сложных многоканальных схем измерения. Новое контрольно-измерительное решение компании Keysight предлагает инструменты для генерации сложных многоканальных/MIMO сигналов LTE/LTE-A и одновременного анализа по нескольким каналам в частотной и модуляционной областях. Простой в обращении графический интерфейс пользователя ускоряет настройку схемы измерений. Кроме того, схемы измерения оптимизированы для конфигураций с агрегацией несущих и LTE/LTE-Advanced MIMO.
Система синхронизации объединительной платы шасси контрольно-измерительного решения позволяет настраивать и маршрутизировать синхросигналы объединительной платы, обеспечивая соответствующую синхронизацию в конфигурациях MIMO с двумя шасси PXIe. Синхронизированное тестирование MIMO (2x2 или 4x4) легко достигается с помощью векторных генераторов ВЧ сигналов Keysight M9381A PXIe и векторных анализаторов сигналов M9391A PXIe, которые имеют амплитуду вектора ошибки менее 0,38 % и погрешность синхронизации каналов менее 20 нс. Кроме того, полоса генерируемых и анализируемых сигналов до 160 МГц обеспечивает поддержку самой широкой агрегации несущих LTE-Advanced. Чтобы узнать больше о многоканальном контрольно-измерительном решении для LTE-A, посетите страницу www.keysight.com/find/solution-LTE, где можно загрузить литературу и получить ссылку на бесплатный веб-семинар «Решение проблем проектирования и тестирования оборудования нового стандарта LTE-Advanced». Изображения представлены по ссылке www.keysight.com/find/solution-LTE_images. О компании: Keysight Technologies Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
|
Читайте бесплатно
События из истории измерений
10.10.1908
День рождения ученого, давшего объяснение эффекту "свечения" электронов
|