EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Онлайн-семинар компании Keithley: Сверхбыстрое определение вольт-амперной характеристики

Онлайн-семинар компании Keithley: Сверхбыстрое определение вольт-амперной характеристики

28.04.2010

Компания Keithley Instruments в этот четверг, 29 апреля 2010 г., проведет бесплатный онлайн-семинар посвященный методике быстрого определения вольт-амперных характеристик: «Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization».

В ходе семинара будет рассмотрена возрастающая необходимость быстрого определения вольт-амперных характеристик при тестировании широкого диапазона устройств и в ходе различных технологических процессов. Наиболее актуальна эта техника при тестировании энергонезависимой памяти устройств, например, флэш-памяти или памяти на основе фазового перехода (PCM или PRAM); изотермической характеризации полупроводниковых приборов SOI (технология silicon-on-insulator - «кремний на изоляторе») и составных полупроводников, а также при определении переходных характеристик новых материалов, таких как диэлектрики с высоким коэффициентом диэлектрической проницаемости (high-K dielectrics).

Для участия в семинаре необходимо зарегестрироваться, пройдя по ссылке: www.keithley.com/events/semconfs/webseminars.

Дата и время проведения:

  • Четверг, 29 апреля 2010 года, 15:00 (GMT +2) (17:00 по Москве)
  • Четверг, 29 апреля 2010 года, 14:00 (GMT -4) (22:00 по Москве)

Семинар рассчитан на один час.

Семинар «Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization» рекомендован преподавателям, студентам, исследователям и инженерам, осуществляющим определение характеристик различных материалов, процессов и устройств.

Для тех, кто не сможет непосредственно, в режиме онлайн, принять участие в семинаре, на веб-сайте компании Keithley будет доступна архивная запись семинара.

www.keithley.com


О компании: Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.