English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(537)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новые возможности осциллографов серии R&S®RTM2000

Новые возможности осциллографов серии R&S®RTM2000

04.11.2013

Компания Rohde & Schwarz расширяет набор приложений для осциллографов серии R&S®RTM2000 опцией R&S®RTM-K5 для синхронизации и декодирования последовательных аудио интерфейсов I²S, LJ, RJ, TDM. Интерфейсы I²S, LJ, RJ, TDM используются для передачи цифровых аудиоданных между микросхемами в аудиосистеме.

С опцией R&S®RTM-K5 пользователь получает возможность проверять содержание сигнала аудиошин. Широкий выбор для условий запуска по предопределенным данным, содержанию, на определённый кадр. Результаты декодированной информации шины отображаются в виде цветной кодировки сигналов шины, в виде таблицы или логических сигналов.

В дополнение к функции запуска и декодирования в опции R&S®RTO-K5 предлагается функционал Трек для аудиоинтерфейсов. Функция Трек позволяет пользователю извлекать декодированные аудиоданные из кадров I²S, LJ, RJ, TDM и графически отображать их как аналоговый сигнал, по времени коррелированный с сигналом шины. С помощью данного функционала обеспечивается интуитивно понятный способ для поиска проблем в аудиоцепи вызванных искажениями, ограничениями и другими аномалиями.

Подробнее.

Rohde & Schwarz


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
16.04.1823
День рождения
16.04.1909
День рождения создателя синтетических алмазов