English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(537)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Rohde&Schwarz представит новую продукцию на EuMW 2010 в Париже

Rohde&Schwarz представит новую продукцию на EuMW 2010 в Париже

03.09.2010

На Европейской микроволновой неделе (EuMW 2010) в Париже (CNIT/Pierre & MarieCurie, стенд 70/69), Rohde&Schwarz представит свои новейшие достижения в области контрольно-измерительного оборудования и решений для измерений в диапазоне до 500 ГГц. EuMW 2010 пройдет с 26 сентября по 1 октября 2010 года.

Среди продукции представленной на стенде компании, посетители смогут увидеть анализаторы спектра реального времени R&S FSVR до 30 ГГц, R&SSMZ (умножитель частоты до 110 ГГц), в качестве дополнения к генератору сигналов R&S SMF100A, а также решение для анализа сети до 500 ГГц на основе профессионального анализатора сети R&S ZVA.

Кроме того, компания представит два новых семейства осциллографов с пропускной способностью от 500 МГц до 2 ГГц: R&S RTM и R&S RTO. Подробнее об осциллографах Rohde & Schwarz можно узнать на сайте www.scope-of-the-art.com

Более подробную информацию о Европейской микроволновой неделе 2010 можно узнать на сайте www.eumweek.com

Rohde&Schwarz
www.rohde-schwarz.com
www.rohde-schwarz.ru


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
20.04.1904
Родился создатель одного из первых электромеханических вычислительных устройств