English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(558)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(648)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(264)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(544)
Новости Tektronix(219)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(120)
Новости Росстандарта(148)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Технологии National Instruments для образовательных, научных и инженерных приложений

04.12.2010

3 декабря 2010 года, состоялся первый день научно-практической конференции «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2010».

Конференция проводится 3-4 декабря 2010 года в Российском Университете Дружбы Народов. В этом году меропиятие проводится в девятый раз.  

На открытии конференции участники прослушали доклады о последних тенденциях в инженерном образовании, успешных проектах в области научных исследований и промышленных приложений.

Регистрация участников Открытие конференции

После открытия конференции и небольшого кофе-брейка, участникам предоставился выбор между четырьмя техническими саммитами по темам: «LabVIEW 2010. Новые возможности среды разработки», «Модульные приборы PXI в радиоэлектронике», «Многоканальные системы измерения сигналов с датчиков для научных и испытательных стендов», «Практикумы по техническим дисциплинам».

В течение двух дней участники смогут услышать более 100 докладов о применении самых современных технологий в научных, образовательных и промышленных приложениях. Специалисты компании National Instruments проведут технические презентации новых продуктов NI и интерактивные мастер-классы по LabVIEW, измерительным и образовательным платформам.

Выставочный зал стал своебразным центром для общения участников

В рамках конференции также проходит выставка решений компании National Instruments и ее партнеров для самых передовых областей, таких как робототехника, связь и телекоммуникации, беспроводные системы сбора данных, автоматизиваронные тестовые системы, встраиваемые платформы и другие.

Стенд самых молодых участников выставки решений

Подробнее о программе конференции можно узнать на сайте www.labview.ru/conference


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.