EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Компания Keithley Instruments расширяет пропускную способность и точность параметрической испытательной системы S530

Компания Keithley Instruments расширяет пропускную способность и точность параметрической испытательной системы S530

04.02.2011

Компания Keithley Instruments, представила усовершенствованную линейку параметрических испытательных систем S530 – наиболее экономически эффективного полностью автоматического решения для параметрических испытаний в полупроводниковой промышленности. Добавлены новые мейнфреймы с высокой пропускающей способностью для высокой целостности сигнала; возможность измерения температуры в Кельвинах на карте пробника для большей точности при низкоуровневом сигнале; новые модули аппаратной защиты, которые гарантируют защиту чувствительных приборов системы от высокого напряжения, а также полный спектр улучшенных технических характеристик системы и средств диагностики. Узнать подробную информацию об улучшениях, можно посмотрев онлайн-презентацию Keithley по ссылке keithley.acrobat.com/p20663354/.

Системы серии S530 оптимизированы для параметрического тестирования на производстве, выпускающем широкий ассортимент продукции или в случаях, когда необходимы высокая гибкость приложения и быстрое формирование плана тестирования. Проверенная технология измерений и высокая точность сигнальных путей, на которых основаны S530, обеспечивают лидерство в отрасли по точности и воспроизводимости измерений.

Две мощных конфигурации параметрического тестирования

Доступны две различные конфигурации системы S530: низкотоковая версия для измерения таких характеристик, как утечки перехода, затвора и т.д., и высоковольтная версия, предназначенная для сложных тестов на отказ и испытаний на утечку, необходимых для мощных устройств GaN, SiC и Si LDMOS. Слаботочная версия S530 Low Current System (от двух до восьми каналов SMU) обеспечивает измерения с разрешением до пикоампера и слаботочную защиту контакта пробника. Высоковольтная версия S530 High Voltage System (от трех до семи каналов SMU) включает в себя источник-измеритель (SMU), способный выдавать до 1000 при 20 мА (20 Вт макс.). При соответствующей конфигурации, системы S530 могут применяться во всех измерительных приложениях постоянного тока и C-V измерениях (емкость-напряжение), необходимых при мониторинге в процессе производства, контроля надежности и определения характеристик устройства.

Оптимизирован для сложных условий тестирования

Параметрические испытательные системы S530 предназначены для ускорения и упрощения разработки плат и сценариев тестирования, обеспечивая немедленную обратную связь с инженером в ходе разработки. Например, программное приложение Automated Characterization Suite (ACS) управляющее системой S530, ускоряет разработку проекта позволяя проводить интерактивное тестирование новых сценариев тестирования без ущерба для пропускной способности в полностью автоматическом режиме. ACS также позволяет проводить разработку проектов тестирования и анализ результатов в офф-лайн режиме.

Мощное программное обеспечение

Системы S530 используют программное обеспечение ACS версии 4.3, на которой также работают несколько уже зарекомендовавших себя испытательных систем Keithley, что облегчает переход от лабораторных исследований к производству и уменьшает время на обучение. ACS максимально увеличивает эффективность и гибкость систем S530, объединяя все элементы, необходимые для автоматизированного параметрического тестирования в едином интегрированном пакете.

Проверенная технология

Все модули источников-измерителей (SMU) параметрической испытательной системы S530 основаны на проверенной технологии Keithley, обеспечивающей высокую точность и повторяемость измерений. Встроенные SMU могут служить источниками тока/напряжения или измерять ток/напряжение. В дополнение к точности установки сигнала, они имеют программируемые пределы во всех диапазонах, что позволяет защитить исследуемое устройство и пробник от повреждения или поломки устройства. Каждый SMU одновременно измеряет параметры тока и напряжения, что гарантирует соответствие измеряемых параметров реальным условиям, а не расчетным характеристикам.

Возможность тестирования емкости-напряжения (C-V)

Все системы S530 могут быть оборудованы опциональным высокоскоростным измерителем емкости для C-V измерений до 2 МГц. Этот модуль может измерять емкость до 10пФ на 1 МГц с 3%-ной точностью.

Для более подробной информации о системы параметрического тестирования S530 пройдите по ссылке: www.keithley.com/products/semiconductor/parametrictestsys/

Keithley Instruments
www.keithley.com


О компании: Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
29.11.1803
Родился австрийский физик
Кристиан Доплер
29.11.1849
Родился английский ученый, изобретатель первой электронной лампы
Джон Амброз Флеминг
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.