English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(553)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(642)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(93)
Новости Rohde & Schwarz(537)
Новости Tektronix(218)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(117)
Новости Росстандарта(146)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Семинар Keysight Technologies «Основы тестирования высокоскоростных цифровых устройств»

Семинар Keysight Technologies «Основы тестирования высокоскоростных цифровых устройств»

27.06.2017

Компания Keysight Technologies приглашает принять участие в семинаре «Основы тестирования высокоскоростных цифровых устройств». Семинар пройдёт 13 июля в Санкт-Петербурге.

В программе семинара:

Основные тенденции и измерительные задачи при разработке высокоскоростных цифровых устройств: этапы, проблемы, решения

На всех этапах — от разработки исходной концепции до тестирования на соответствие требованиям стандартов — компания Keysight позволит вам наиболее эффективно выявлять проблемы, оптимизировать характеристики, успешно и вовремя выполнить поставленные задачи.

Данный семинар охватывает следующие темы:

  • Новые средства электромагнитного моделирования для обеспечения целостности сигналов и питания
  • Пробники для осциллографов реального времени, обеспечивающие более высокую точность измерений
  • Точное измерение показателей качества питания с использованием разработанных ранее и новых методов и средств осциллографии
  • Генераторы сигналов произвольной формы: выбор подходящего прибора для разработки цифровых оптических или электрических устройств

Тема 1: Проектирование и моделирование высокоскоростных цифровых устройств в САПР Keysight ADS с анализом целостности сигнала и питания

Обеспечьте целостность сигналов и питания до создания прототипа

В связи с непрерывным ростом скорости передачи данных все большую важность приобретает необходимость точного определения S-параметров для печатных плат на высоких частотах. САПР ADS 2016 предлагает множество новых технических решений, разработанных с целью повышения точности моделирования печатных плат, в том числе, два программных продукта для электромагнитного (ЭМ) моделирования, созданных специально для инженеров, занимающихся вопросами обеспечения целостности сигналов и питания.

Это решение включает 4 новых ЭМ-симулятора:

  • анализ падения постоянного напряжения в цепях питания;
  • анализ профиля импеданса цепей распределения питания в полосе частот;
  • анализ собственных резонансов цепей питания;
  • анализ целостности сигналов с учетом питания.

На этом семинаре вы сможете ознакомиться с инновационными комбинированными технологиями на основе ЭМ анализа SIPro и PIPro для проектирования высокоскоростных линий передачи данных на печатных платах. Новые решения SIPro и PIPro предоставляют единый с САПР ADS технологический процесс моделирования для прикладных задач обеспечения целостности сигналов и питания.

Тема 2: Исследование высокоскоростных сигналов на осциллографах реального времени с применением активных пробников

Используйте современные широкополосные системы пробников и выполняйте прецизионные измерения с их помощью

В данной части семинара продолжится рассмотрение темы векторного анализа сигналов. Программа векторного анализа сигналов 89600 VSA поддерживает анализ более 75 типов сигналов, в том числе сигналы стандартов LTE-Advanced и 802.11ac. Для заказчиков в оборонной и аэрокосмической отраслях предлагаются решения для анализа импульсных сигналов и непрерывных сигналов РЛС с частотной модуляцией (FMCW) наряду с гибкими возможностями для проведения анализа нестандартных или специализированных сигналов с помощью стандартных инструментов.

В данном докладе будут рассмотрены следующие вопросы:

  • Важные характеристики пробников
  • Несимметричные пробники
  • Дифференциальные пробники с впаиваемыми головками и наконечниками с нулевым усилием сочленения (ZIF)
  • Головки-браузеры для дифференциальных пробников
  • Смещение в дифференциальных пробниках
  • Параметры входного импеданса пробников

Тема 3: Анализ целостности питания на печатных платах при отладке прототипа

Измеряйте показатели качества и целостности питания при отладке цепей постоянного напряжения с помощью осциллографов и специальных пробников

Ввиду сложившейся в последнее время тенденции к неуклонному снижению напряжения питания устройств, источники питания постоянного тока становятся предметом все более пристального внимания. По мере того, как пользователи пытаются уменьшить потребляемую устройствами мощность, увеличить эффективность и минимизировать уровень обусловленных влиянием источника питания шумов в сигнале, допуски на отклонение напряжения питания становятся все жестче. В этом докладе рассматриваются инструменты и методы для проведения измерений показателей качества питания, таких как пульсации, шумы, выбросы, провалы, реакция на статическую/динамическую нагрузку, шумы в сигнале, обусловленные влиянием источника питания, а также джиттер сигнала.

Кроме того, в докладе обсуждается влияние шума осциллографа, шума пробника, коэффициента ослабления пробника, диапазона смещения, диапазона входного напряжения, способов подключения, а также измерение перекрестных помех между питанием и сигналом.

В данном докладе будут затронуты следующие вопросы:

  • Повышение точности и надежности тестирования при отладке распределенных цепей питания/полигонов (PDN)
  • Упрощение выявления основных причин шума в распределенных цепях питания
  • Исключение ошибочных отрицательных (или положительных) результатов тестирования
  • Ознакомление со специализированными инструментами, позволяющими упростить работу при анализе целостности питания

Тема 4: Основы формирования сигналов произвольной формы

Получите основные сведения о генераторах сигналов произвольной формы и облегчите себе дальнейший выбор подходящего прибора для разработки цифровых оптических или электрических устройств

Тестирование электронных устройств или систем предполагает подачу входных воздействий на тестируемое устройство/систему и анализ характера изменения выходного сигнала. Иногда для испытаний используются реальные входные воздействия, но в большинстве случаев для обеспечения воспроизводимости результатов измерений для подачи тестовых сигналов применяют специализированные приборы, например, генераторы сигналов произвольной формы. По мере того, как устройства и интерфейсы становятся все более быстродействующими и более сложными, особую важность приобретает гибкость испытательного оборудования. Генераторы сигналов произвольной формы позволяют формировать самые разнообразные сигналы.

В данном докладе будут рассмотрены критерии, которые необходимо учитывать при выборе генератора сигналов произвольной формы для использования в процессе разработки цифровых оптических и электрических устройств, широкополосных радаров, средств спутниковой связи, а также в фундаментальных исследованиях. Будет рассказано о наиболее важных особенностях формирования цифровых многоуровневых сигналов и сигналов с амплитудно-импульсной модуляцией, например, PAM-4, сигналов беспроводной связи и сигналов со сложной модуляцией, сигналов с несколькими несущими, а также когерентных оптических сигналов.

Подробнее об условиях участия читайте на сайте Keysight Technologies по данной ссылке.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 1 Март 2021
КИПиС 2021 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений