EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Образовательный форум «Возможности дизайна и тестирования по стандартам высокоскоростных последовательных интерфейсов будущего поколения (PCIe 3, DDR 3/4, USB 3, FPGA 28 Gbps)»

Образовательный форум «Возможности дизайна и тестирования по стандартам высокоскоростных последовательных интерфейсов будущего поколения (PCIe 3, DDR 3/4, USB 3, FPGA 28 Gbps)»

23.01.2012

Компания Agilent Technologies, на правах генерального спонсора, приглашает посетить один из двух бесплатных образовательных семинаров, которые пройдут в рамках выставки DesignCon 2012.

Вы можете зарегистрироваться прямо сейчас через сайт выставки DesignCon. Если Вы уже зарегистрированы, зайдите в свой профайл и добавьте любой из семинаров в своё расписание.

Для разработок сегодняшнего дня необходимо применение оборудования по последнему слову техники, а также контроль, гарантирующий надёжность и беспрепятственное осуществление производственного процесса. Перед вами уникальный шанс применить доступные инструменты для тестирования в ходе процесса работы высокоскоростных последовательных интерфейсов, начиная с разработки и моделирования, от включения до отладки, использования контрольной системы и проверки на соответствие.

Целевая аудитория

  • Производители микросхем, которые включают высокоскоростные последовательные соединения – все, кто хочет убедиться, что их разработки соответствуют техническим характеристикам и проходят проверку перед непосредственным выходом продукции.
  • Разработчики печатных плат, которые используют высокоскоростные цифровые передатчики/приёмники и должны заниматься разработкой/отладкой и проверкой итоговой продукции.

Повестка дня

  • Моделирование и производство: оценка степени влияния различных вариантов на разработки высокоскоростных последовательных технологий. Использование моделирования и измерения для отладки и подготовки итоговой продукции.
  • Разработка чипов/плат: понимание и моделирование физических и электрических характеристик пассивных компонентов и соединений, даже если контактное измерение невозможно.
  • Включение и стабилизация: процесс включения, напряжение и согласование по времени при включении, измерение соотношений, отдельных приборов и физических элементов.
  • Отладка, проверка и характеристика: раскрытие глазковой диаграммы, наклон, влияние нагрузки и температуры.
  • Системное тестирование: Эффективная проверка в соответствии с наличествующими системными условиями.
  • Соответствие: тестирование на соответствие стандартам.
  • Демонстрации с использованием следующих стандартов: PCIe Gen 3, USB 3.0, 28 Gbps FPGA и DDR3/4

Первая сессия
Дата: Пн., 30 января, 2012
Время: 13:30 – 16:30
Место проведения: демонстрационный зал на втором этаже, Конвеншн-центр в Санта-Кларе (Santa Clara Convention Center)

Вторая сессия
Дата: Ср., 1 февраля, 2012
Время: 8:30 - 11:30
Место проведения: демонстрационный зал на втором этаже, Конвеншн-центр в Санта-Кларе (Santa Clara Convention Center)


О компании: Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
14.04.1629
День рождения
Христиан Гюйгенс ван Зёйлихем
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.