EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Семинар Keysight Technologies “Основы метрологии”

Семинар Keysight Technologies “Основы метрологии”

10.10.2017

Keysight Technologies приглашает принять участие в семинаре «Основы метрологии», который пройдёт в Самаре 17 октября 2017.

В ходе разработки и производства электронных устройств инженеры полагаются на данные измерений, выполненных различными контрольно-измерительными приборами. Прослеживаемость, точность и воспроизводимость – ключевые понятия метрологии. С целью поддержки развития технологий и обеспечения единства измерений метрологические службы предприятий должны гарантировать прослеживаемость измерений различных электрических параметров, в том числе, тока, напряжения, импеданса и мощности в требуемом диапазоне частот.

В настоящий момент электрические и радиочастотные стандарты, прослеживаемые до метрологических лабораторий, имеют максимальный диапазон частот 110 ГГц. (в тракте 1-мм). Компания Keysight работает с несколькими национальными метрологическими институтами по всему миру, чтобы расширить прослеживаемость измерений в диапазоне свыше 110 ГГц.

В ходе семинара будут представлены новейшие технологии, разработанные для повышения точности, воспроизводимости и прослеживаемости измерений метрологического класса. Эксперты-метрологи компании расскажут об основных требованиях, предъявляемых к калибровке, о типичных ошибках калибровки, отдельно остановятся на возможных источниках этих ошибок. Также будут рассмотрены вопросы погрешности измерений, верификации калибровки и использование стандартов верификации для оценки работы откалиброванной системы. В финальной части семинара будет рассказано о новейших технологических достижениях в калибровке и о том, что нужно принимать во внимание при выборе приборов для метрологических измерений. Будет проведена практическая демонстрация измерений.

К участию в семинаре приглашаются главные метрологи, главные инженеры и руководители, отвечающие за качество измерений и управление парком измерительных приборов предприятия.

Посмотреть подробную программу семинара, а также узнать об условиях участия, можно по данной ссылке.

www.keysight.com


О компании: Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
16.04.1823
День рождения
Фердинанд Эйзенштейн
16.04.1909
День рождения создателя синтетических алмазов
Верещагин Леонид Фёдорович
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.