EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Cтенд технологий National Instruments в Политехническом музее

Cтенд технологий National Instruments в Политехническом музее

02.07.2012

В Политехническом музее, крупнейшем научно-техническом музее России, начал работу стенд, демонстрирующий передовые технологии компании National Instruments.

Специалистами компании National Instruments совместно с сотрудниками Политехнического музея были проведены работы по расширению экспозиции музея.

В рамках этой работы в павильоне, посвященном автоматике и кибернетике, представлен интерактивный модульный комплекс измерения температурного поля, в состав которого входит модульное оборудование National Instruments и графическая среда NI LabVIEW.


Стенд National Instruments в Политехническом музее

Посетители при помощи данного приложения могут измерить температурный фон ладони, который при помощи программных средств NI LabVIEW отображается в графическом, 2D и 3D виде на мониторе компьютера. Технологии NI для мощного сбора данных на примере данного стенда наглядно демонстрируют широкий спектр возможностей оборудования NI для разработки надежных многоканальных систем сбора данных.

Стенд NI позволяет будущим инженерам и разработчикам в живую ознакомиться с возможностями программно-аппаратной платформы NI и модульными системами для разработки контрольно-измерительных систем.


О компании: NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
13.12.1816
День рождения
Вернер фон Сименс
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.