EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Компания Agilent Technologies представила атомно-силовой микроскоп следующего поколения

Компания Agilent Technologies представила атомно-силовой микроскоп следующего поколения

10.02.2014

Компания Agilent Technologies объявила о выпуске атомно-силового микроскопа (АСМ) 7500 AFM – передового прибора, устанавливающего новые стандарты производительности, функциональности и эргономики для измерений и манипуляций в нанодиапазоне. Agilent 7500 обеспечивает атомарное разрешение за счет использования сканера с диапазоном 90 мкм с обратной связью позиционирования.

Agilent 7500 – это новое поколение приборов, позволяющее расширить область применения метода атомно-силовой микроскопии в науке и промышленности, благодаря высокому разрешению сканирования и точному контролю температуры и среды проведения эксперимента. Новый 7500 AFM является идеальным решением для перспективных направлений в материаловедении, биологии, науке о полимерах, электрохимии, измерениях электрических свойств и нанолитографии.

7500 AFM имеет встроенную камеру контролируемой среды с удобным доступом и герметичный отсек для исследуемых образцов, полностью изолированный от остальной системы. Расположенные в камере датчики влажности и температуры постоянно контролируют текущие условия. В камеру можно легко закачивать и откачивать из неё кислород или другие химически активные газы. Опциональный контроллер температуры образцов обеспечивает точное регулирование в диапазоне от –30 до +250 °C с достаточным разрешением, требуемым для любого эксперимента.

Стандартная сменная насадка сканера системы AFM поддерживает более пяти режимов отображения и при необходимости может легко заменяться специализированными сменными насадками сканера, расширяющими возможности прибора. Микроскоп 7500 сразу позволяет получать высококачественное изображение и проводить электрохимические исследования, а специальный контроллер Agilent MAC Mode III обеспечивает измерение электрических свойств на одиночном проходе.

Дополнительную информацию можно найти на странице www.agilent.com/find/7500.

Атомно-силовые микроскопы (AFM) от Agilent Technologies

Компания Agilent предлагает прецизионные, модульные решения AFM для научных исследований, промышленности и учебных заведений. Всесторонняя поддержка мирового масштаба обеспечивается опытными прикладными специалистами и техническим персоналом. Передовые исследовательские лаборатории компании Agilent постоянно занимаются разработкой и оптимизацией инновационных и простых в применении технологий AFM.

Agilent Technologies


О компании: Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
14.04.1629
День рождения
Христиан Гюйгенс ван Зёйлихем
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.