Презентация книги «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей»

10.05.2018

В рамках Всероссийского съезда метрологов и приборостроителей в период с 15 по 17 мая 2018 года на ВДНХ в павильоне №75 запланирована презентация книги «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей», автором которой является Джоэль П. Дансмор, Keysight Technologies.

Джоэль П. Дансмор, PhD, более 30 лет работает инженером-разработчиком в компании Keysight Technologies, которая является мировым лидером в области разработки и производства измерительных решений и преемницей отделов электронных измерений компаний Hewlett-Packard и Agilent Technologies. Автор участвовал в работе над широчайшим кругом измерительных задач в СВЧ-диапазоне – от компонентов сотового телефона до спутниковых мультиплексоров – и является обладателем 21 патента. Его книга «Измерения параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей», впервые вышедшая в 2012 году, стала настоящим бестселлером среди метрологов и инженеров-разработчиков СВЧ-устройств во всем мире. Джоэль П. Дансмор также написал большое количество статей по теории и практике измерений. Кроме того, он ведет учебные курсы по основам анализа цепей и ВЧ-технологиям в Университете Калифорнии, Беркли, а также является автором разнообразных краткосрочных курсов.

Источник: www.metrol.expoprom.ru
Фото Джоэля П. Дансмора: www.eetimes.com

Примечание: Всероссийский Съезд метрологов и приборостроителей пройдёт в рамках 14-го Московского международного инновационного форума и выставки «Точные измерения – основа качества и безопасности». Читайте подробнее о мероприятии в разделе нашего сайта «Обзоры и анонсы выставок» по данной ссылке.

О компании: Keysight Technologies